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车规级芯片的加严筛选
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作者 魏代龙 《中国集成电路》 2023年第7期88-91,共4页
车规级芯片对安全性和可靠性有着严格的要求,所以要在测试端进行加严筛选,以达到零失效的目标。常见的加严筛选项目有动态零件平均测试(DPAT)、坏集群中的良品(GDBC)、堆叠晶圆图、老化(Burn-in)等,本文阐述了加严筛选项目的作用,并通... 车规级芯片对安全性和可靠性有着严格的要求,所以要在测试端进行加严筛选,以达到零失效的目标。常见的加严筛选项目有动态零件平均测试(DPAT)、坏集群中的良品(GDBC)、堆叠晶圆图、老化(Burn-in)等,本文阐述了加严筛选项目的作用,并通过实验说明了加严筛选的执行方式及筛选出的比例。 展开更多
关键词 车规级芯片 零失效 加严筛选 DPAT gdbc
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