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Multiplier Design Utilizing Tri Valued Logic for RLNS Based DSP Applications
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作者 Shalini Radakirishnan Valliammal Sampath Palaniswami 《Circuits and Systems》 2016年第4期417-433,共17页
Residue Number System (RNS) has proved shaping the Digital Signal Processing (DSP) units into highly parallel, faster and secured entities. The computational complexity of the multiplication process for a RNS based de... Residue Number System (RNS) has proved shaping the Digital Signal Processing (DSP) units into highly parallel, faster and secured entities. The computational complexity of the multiplication process for a RNS based design can be reduced by indulging Logarithmic Number System (LNS). The combination of these unusual number systems forms Residue Logarithmic Number System (RLNS) that provides simple internal architectures. Till date RLNS based processing units are designed for binary logic based circuits. In order to reduce the number of input output signals in a system, the concept of Multiple Valued Logic (MVL) is introduced in literature. In that course of research, this paper uses Tri Valued Logic (TVL) in RLNS technique proposed, to further reduce the chip area and delay value. Thus in this research work three different concepts are proposed, it includes the design of multiplier for RLNS based application for number of bits 8, 16 and 32. Next is the utilization of TVL in the proposed multiplication structure for RLNS based system along with the error correction circuits for the ternary logarithmic and antilogarithmic conversion process. Finally the comparison of the two multiplication schemes with the existing research of multiplier design for RNS based system using booth encoding concepts. It can be found that the proposed technique using TVL saves on an average of about 63% of area occupied and 97% of delay value respectively than the existing technique. 展开更多
关键词 Residue Number System (RNS) Residue Logarithmic Number System (RLNS) Tri Valued Logic (TVL) Binary Logic error correction circuits
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一种带二进制校正的10位100MS/s SAR ADC 被引量:2
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作者 倪亚波 张创 +3 位作者 徐世六 刘璐 范誉潇 陈遐迩 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2016年第2期145-149,共5页
基于SMIC 65nm CMOS工艺,设计了一种带二进制校正的10位100 MS/s逐次逼近型模数转换器(SAR ADC),主要由自举开关、低噪声动态比较器、电容型数模转换器(C-DAC)、异步SAR逻辑以及数字纠错电路组成。电容型数模转换器采用带2位补偿电容的... 基于SMIC 65nm CMOS工艺,设计了一种带二进制校正的10位100 MS/s逐次逼近型模数转换器(SAR ADC),主要由自举开关、低噪声动态比较器、电容型数模转换器(C-DAC)、异步SAR逻辑以及数字纠错电路组成。电容型数模转换器采用带2位补偿电容的拆分单调电容转换方案,通过增加2位补偿电容,克服了电容型数模转换器在短时间内建立不稳定和动态比较器失调电压大的问题,使SAR ADC的性能更加稳定。数字纠错电路将每次转换输出的12位冗余码转换成10位的二进制码。使用Spectre进行前仿真验证,使用Virtuoso进行版图设计,后仿真结果表明,当电源电压为1.2V、采样率为100MS/s、输入信号为49.903MHz时,该ADC的SNDR达到58.1dB,而功耗仅为1.3mW。 展开更多
关键词 二进制校正 逐次逼近型模数转换器 数字纠错电路 动态比较器 异步SAR逻辑
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一种抗辐射加固检错纠错电路的设计 被引量:2
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作者 徐睿 顾展弘 罗静 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2010年第4期547-550,共4页
分析了电子元器件在空间辐射影响下的一些性能变化,设计了一种应用于星载计算机数据管理系统的抗辐射加固检错纠错电路。重点介绍了逻辑设计、版图设计和抗辐射加固设计。电路采用商用标准CMOS工艺加工,使用版图级、单元级和电路级等多... 分析了电子元器件在空间辐射影响下的一些性能变化,设计了一种应用于星载计算机数据管理系统的抗辐射加固检错纠错电路。重点介绍了逻辑设计、版图设计和抗辐射加固设计。电路采用商用标准CMOS工艺加工,使用版图级、单元级和电路级等多层次的0.5 μm综合体硅加固技术,提高了抗辐射能力。试验结果表明,电路的抗辐射总剂量最高可达3.6 kGy(Si)。 展开更多
关键词 检错纠错电路 抗辐射加固 总剂量辐射
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基于LBIST的纠检错电路验证方法与实现
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作者 崔媛媛 李振辉 张洵颖 《计算机测量与控制》 北大核心 2014年第7期2146-2147,2153,共3页
基于逻辑内建自测试的设计原理,提出了一种针对纠检错电路进行功能自测试的方法,根据纠检错电路具有固定纠检错能力的特点,无需存储海量的比较数据,也不需要设计响应特征分析器对结果数据进行压缩处理,针对具体的纠检错电路,通过增加特... 基于逻辑内建自测试的设计原理,提出了一种针对纠检错电路进行功能自测试的方法,根据纠检错电路具有固定纠检错能力的特点,无需存储海量的比较数据,也不需要设计响应特征分析器对结果数据进行压缩处理,针对具体的纠检错电路,通过增加特别设计的注错逻辑可实现任意类型的故障注入,并根据注错信息可对结果进行预测,通过与预期结果比较,可达到验证的目的;最后,以(40,32)海明编码与解码电路为例,实现了其功能自测试结构,并对所有240-1种故障进行了注入与验证;结果表明使用本文的验证方法,可实现纠检错电路的自动化随机验证。 展开更多
关键词 逻辑内建自测试 纠检错电路 故障注入 单粒子翻转 线性反馈移位寄存器
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