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不同时期耀州窑青瓷制釉原料探讨
被引量:
3
1
作者
申静怡
Julian Henderson
《西部考古》
2018年第1期232-241,共10页
本研究对唐、五代及北宋时期的耀州窑青瓷釉样品分别进行了主量元素和稀土元素分析。主量元素分析结果显示,耀州窑青瓷可能以草木灰作为助熔剂。从唐代至北宋时期,耀州窑青瓷釉料配方以'钙釉'为主,但有从'钙釉'向'...
本研究对唐、五代及北宋时期的耀州窑青瓷釉样品分别进行了主量元素和稀土元素分析。主量元素分析结果显示,耀州窑青瓷可能以草木灰作为助熔剂。从唐代至北宋时期,耀州窑青瓷釉料配方以'钙釉'为主,但有从'钙釉'向'钙-碱釉'变化的趋势。此外,配方中釉石的比例逐渐升高,而助熔剂的比例逐渐降低。根据耀州窑青瓷釉的稀土元素分布模式图和含量特征,从唐代至北宋时期,具有相同地质特征的釉石(据文献记载可能为'富平釉石')可能被用作耀州窑青瓷釉的制作原料。但是釉石的采集地点不止一处。釉石的中心采集地点在北宋时期发生改变。本研究初步显示,釉的稀土元素分析是探讨瓷器烧制时所用釉石来源的一种可行方法。
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关键词
耀州窑青瓷釉
主量元素分析
稀土元素分析
epma
-
wds
LA-ICP-MS
原文传递
精确测定Al_xGa_(1-x)N晶体薄膜中铝含量的电子探针波谱法研究
被引量:
4
2
作者
刘运传
周燕萍
+3 位作者
王雪蓉
孟祥艳
段剑
郑会保
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第6期336-340,共5页
采用蒙特卡罗理论模拟加速电子在氮铝镓晶体薄膜中的运动轨迹,研究加速电压与高能电子所能达到样品深度的数学关系,并通过紫外可见光透射法获得晶体薄膜的光学厚度。根据理论模拟结果,选择合适于本样品的加速电压、电流与电子束直径等...
采用蒙特卡罗理论模拟加速电子在氮铝镓晶体薄膜中的运动轨迹,研究加速电压与高能电子所能达到样品深度的数学关系,并通过紫外可见光透射法获得晶体薄膜的光学厚度。根据理论模拟结果,选择合适于本样品的加速电压、电流与电子束直径等实验条件,电子探针波谱法测定AlxGa1-xN薄膜中铝元素含量,由两个电子探针实验室进行分析,每个实验室测量6个样品,共12个样品。从重复性测量、X射线强度、物理参数、校准用标准物质及仪器检测限等因素,对电子探针波谱法测量AlxGa1-xN薄膜材料中铝含量的测量不确定度进行分析。研究结果表明电子探针波谱法测量AlxGa1-xN晶体薄膜组分(x=0.8)的相对测量不确定度为2.7×10-2,包含因子k=2。
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关键词
薄膜
氮铝镓
电子探针波谱法
测量不确定度
蒙特卡罗法
原文传递
题名
不同时期耀州窑青瓷制釉原料探讨
被引量:
3
1
作者
申静怡
Julian Henderson
机构
英国诺丁汉大学人文学院考古学系
出处
《西部考古》
2018年第1期232-241,共10页
文摘
本研究对唐、五代及北宋时期的耀州窑青瓷釉样品分别进行了主量元素和稀土元素分析。主量元素分析结果显示,耀州窑青瓷可能以草木灰作为助熔剂。从唐代至北宋时期,耀州窑青瓷釉料配方以'钙釉'为主,但有从'钙釉'向'钙-碱釉'变化的趋势。此外,配方中釉石的比例逐渐升高,而助熔剂的比例逐渐降低。根据耀州窑青瓷釉的稀土元素分布模式图和含量特征,从唐代至北宋时期,具有相同地质特征的釉石(据文献记载可能为'富平釉石')可能被用作耀州窑青瓷釉的制作原料。但是釉石的采集地点不止一处。釉石的中心采集地点在北宋时期发生改变。本研究初步显示,釉的稀土元素分析是探讨瓷器烧制时所用釉石来源的一种可行方法。
关键词
耀州窑青瓷釉
主量元素分析
稀土元素分析
epma
-
wds
LA-ICP-MS
Keywords
Yaozhou celadon glaze
major chemical composition
REE
epma
-
wds
LA-ICP-MS
分类号
K876.3 [历史地理—考古学及博物馆学]
原文传递
题名
精确测定Al_xGa_(1-x)N晶体薄膜中铝含量的电子探针波谱法研究
被引量:
4
2
作者
刘运传
周燕萍
王雪蓉
孟祥艳
段剑
郑会保
机构
中国兵器工业集团第五三研究所
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第6期336-340,共5页
基金
国防基础科研计划项目(J092009A001)资助课题
文摘
采用蒙特卡罗理论模拟加速电子在氮铝镓晶体薄膜中的运动轨迹,研究加速电压与高能电子所能达到样品深度的数学关系,并通过紫外可见光透射法获得晶体薄膜的光学厚度。根据理论模拟结果,选择合适于本样品的加速电压、电流与电子束直径等实验条件,电子探针波谱法测定AlxGa1-xN薄膜中铝元素含量,由两个电子探针实验室进行分析,每个实验室测量6个样品,共12个样品。从重复性测量、X射线强度、物理参数、校准用标准物质及仪器检测限等因素,对电子探针波谱法测量AlxGa1-xN薄膜材料中铝含量的测量不确定度进行分析。研究结果表明电子探针波谱法测量AlxGa1-xN晶体薄膜组分(x=0.8)的相对测量不确定度为2.7×10-2,包含因子k=2。
关键词
薄膜
氮铝镓
电子探针波谱法
测量不确定度
蒙特卡罗法
Keywords
films
AlxGa1-xN
epma
/
wds
uncertainty
Monte Carlo method
分类号
TB34 [一般工业技术—材料科学与工程]
TB99 [一般工业技术—计量学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
不同时期耀州窑青瓷制釉原料探讨
申静怡
Julian Henderson
《西部考古》
2018
3
原文传递
2
精确测定Al_xGa_(1-x)N晶体薄膜中铝含量的电子探针波谱法研究
刘运传
周燕萍
王雪蓉
孟祥艳
段剑
郑会保
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013
4
原文传递
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参考文献
引证文献
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