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提升红外焦平面探测器杜瓦组件的贮存寿命 被引量:2
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作者 张亚平 朱颖峰 +6 位作者 徐冬梅 徐世春 刘湘云 高玲 赵维艳 王艳 何晶 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第8期643-649,共7页
杜瓦内真空度退化和芯片盲元增加是影响红外焦平面探测器杜瓦组件贮存寿命的两大方面。杜瓦组件的排气策略直接关系到红外红外探测器杜瓦的真空寿命和红外芯片的贮存寿命,是影响红外探测器杜瓦组件可靠性的关键。本文以杜瓦放气率测试... 杜瓦内真空度退化和芯片盲元增加是影响红外焦平面探测器杜瓦组件贮存寿命的两大方面。杜瓦组件的排气策略直接关系到红外红外探测器杜瓦的真空寿命和红外芯片的贮存寿命,是影响红外探测器杜瓦组件可靠性的关键。本文以杜瓦放气率测试技术为依托,结合杜瓦组件在贮存环境下的退化规律和模型预测杜瓦贮存寿命。最后,综合平衡排气温度/时间对杜瓦真空寿命及芯片盲元损耗的影响,提供一种实现红外芯片和杜瓦真空同时失效的技术途径。 展开更多
关键词 红外焦平面探测器 杜瓦真空 盲元 同时失效
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红外焦平面探测器杜瓦组件真空失效及其检测方法 被引量:6
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作者 李建林 刘湘云 +1 位作者 朱颖峰 孙娟 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2015年第10期2874-2879,共6页
杜瓦真空失效造成光电转换探测系统的核心部件故障,依据真空物理稀薄气体理论,分析探讨了真空失效考核方法。检测组件在工作状态下的降温时间是否符合用户要求,是确认真空失效最直接有效的方法。制冷机额定制冷功率与杜瓦最大无功功率之... 杜瓦真空失效造成光电转换探测系统的核心部件故障,依据真空物理稀薄气体理论,分析探讨了真空失效考核方法。检测组件在工作状态下的降温时间是否符合用户要求,是确认真空失效最直接有效的方法。制冷机额定制冷功率与杜瓦最大无功功率之差,即设计允许最大热负载增加量。在特定时间区间内,利用液氮蒸发原理测量热负载增加量,达到扩展不确定度30 m W(k=3)时,可以认为杜瓦真空有用寿命不符合用户要求。用户定制15年真空有用寿命,则要求杜瓦漏气速率小于5×10-15Pa·m3/s,真空失效的气体压力大于1×10-2Pa。 展开更多
关键词 红外焦平面 杜瓦真空失效 热负载 降温时间 可靠性
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