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碳纳米管对铜电子浆料导电性能的影响 被引量:9
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作者 尚润琪 屈银虎 +2 位作者 成小乐 蒙青 王翔 《西安工程大学学报》 CAS 2016年第6期802-807,共6页
为提高铜电子浆料的导电性能,在其中加入碳纳米管作为导电增强相.文中通过改变导电相的比例及碳纳米管的种类研究了碳纳米管的含量和类型对铜浆料导电性能的影响.结果表明,在浆料中加入碳纳米管能够很大程度上提高其导电性能,以m(Cu)... 为提高铜电子浆料的导电性能,在其中加入碳纳米管作为导电增强相.文中通过改变导电相的比例及碳纳米管的种类研究了碳纳米管的含量和类型对铜浆料导电性能的影响.结果表明,在浆料中加入碳纳米管能够很大程度上提高其导电性能,以m(Cu)∶m(Carbon Nanotubes)=98∶2的比例制备出的复合浆料导电性能最佳;复合浆料的导电性能随碳纳米管纯度的提升而增大,随管径的减小而提升,且其长度在5-30μm时制备的复合浆料导电性能相对较好.综合其导电性能和成本,选择纯度为95%,管径为20-30nm,长度为10-30μm的碳纳米管制备铜复合浆料. 展开更多
关键词 铜电子浆料 碳纳米管 导电性能
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纳米铜焊膏烧结互连技术研究现状与展望 被引量:1
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作者 牟运 彭洋 +1 位作者 刘佳欣 陈明祥 《集成技术》 2023年第5期12-26,共15页
纳米铜焊膏在低温烧结后可形成耐高温、高导电导热同质互连结构,该互连结构不仅可避免锡基焊料层和烧结银层服役过程中出现桥接短路和电迁移的可靠性问题,还可解决异质互连结构热膨胀系数不匹配的问题,在集成电路和功率器件封装领域具... 纳米铜焊膏在低温烧结后可形成耐高温、高导电导热同质互连结构,该互连结构不仅可避免锡基焊料层和烧结银层服役过程中出现桥接短路和电迁移的可靠性问题,还可解决异质互连结构热膨胀系数不匹配的问题,在集成电路和功率器件封装领域具有重要应用价值。近年来,在铜纳米颗粒稳定性和低温烧结性能方面,纳米铜焊膏烧结互连技术取得了重大研究进展。但与纳米银焊膏烧结互连技术相比,纳米铜焊膏的稳定性、低温烧结性能和可靠性仍有较大提升空间。该文从烧结互连机理、烧结工艺调控、铜纳米颗粒表面改性、纳米铜基复合焊膏、互连可靠性和封装应用方面,阐述了纳米铜焊膏烧结互连技术的最新研究进展,并对后续的技术发展和研究思路进行了展望。 展开更多
关键词 纳米铜焊膏 烧结互连 集成电路封装 功率器件封装
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Interfacial enhancement of Ag and Cu particles sintering using(111)-oriented nanotwinned Cu as substrate for die-attachment 被引量:2
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作者 Guo Rumeng Xiao Yubo +3 位作者 Gao Yue Zhou Shiqi Liu Yang Liu Zhiquan 《China Welding》 CAS 2022年第1期22-28,共7页
The electroplated(111)-oriented nanotwinned-Cu(nt-Cu) film was utilized as substrate for Ag and Cu sinter joining to improve the weak interface connection between the metal paste and the substrate.It was found that bo... The electroplated(111)-oriented nanotwinned-Cu(nt-Cu) film was utilized as substrate for Ag and Cu sinter joining to improve the weak interface connection between the metal paste and the substrate.It was found that both Cu and Ag sinter joints using(111)-oriented nt-Cu film exhibited a higher bonding strength than that using traditional random-oriented Cu film.Especially,the joints sintered with Cu paste on(111)-oriented nt-Cu film possessed a higher bonding strength of 53.7 MPa at the sintering condition of 300 °C,0.4 MPa in N2 atmosphere,compared to that on random-oriented Cu film with a value of 31.3 MPa.The results show that as metal substrate layer,the(111)-oriented nt-Cu film can improve the connection performance of Ag and Cu sinter joints,which could further promote their application in dieattachment technology for the next-generation power semiconductors. 展开更多
关键词 nanotwinned copper sinter joining Ag and cu paste interface bonding strength
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功率器件芯片互连用低温烧结铜基电子浆料研究进展 被引量:6
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作者 徐恒一 徐红艳 +1 位作者 臧丽坤 徐菊 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2022年第1期9-18,共10页
随着电力电子器件向着更高功率密度、更小体积和更高集成度等方向发展,特别是第三代半导体SiC和GaN功率芯片的应用,研究满足高功率密度、高工作电压、耐高温的功率器件封装用互连材料成为近年来的重要课题,开发低温连接、高温服役的高... 随着电力电子器件向着更高功率密度、更小体积和更高集成度等方向发展,特别是第三代半导体SiC和GaN功率芯片的应用,研究满足高功率密度、高工作电压、耐高温的功率器件封装用互连材料成为近年来的重要课题,开发低温连接、高温服役的高可靠性无铅互连材料具有重要意义。低温烧结铜基浆料具有价格低廉、导电导热性能好、抗电迁移等优点,是新型功率器件封装互连中理想的连接材料之一。通过结合纳米银和纳米铜浆料的优点能够获得连接稳定、烧结和服役性能可靠的铜基接头。概述了包括纳米铜银混合浆料、纳米铜银合金浆料以及银包铜复合浆料等铜基浆料的常见制备技术,阐释了各种浆料的烧结机理和接头性能,并对高性能铜基浆料的应用前景进行了展望。 展开更多
关键词 低温烧结 电子封装 综述 无铅互连 铜基浆料 接头性能
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芯片互连用粒径双峰分布纳米铜膏的低温无压烧结纳连接机理和接头可靠性 被引量:2
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作者 黄海军 周敏波 +1 位作者 吴雪 张新平 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第2期58-65,共8页
利用一步化学还原法合成具有粒径双峰分布的铜纳米颗粒,并制备可在低温无压条件下烧结的纳米铜膏。铜纳米颗粒由平均粒径160 nm的大颗粒及其被平均粒径9 nm小颗粒包围的团聚体构成;采用乳酸基复合包覆剂不仅能有效防止铜颗粒氧化,还对... 利用一步化学还原法合成具有粒径双峰分布的铜纳米颗粒,并制备可在低温无压条件下烧结的纳米铜膏。铜纳米颗粒由平均粒径160 nm的大颗粒及其被平均粒径9 nm小颗粒包围的团聚体构成;采用乳酸基复合包覆剂不仅能有效防止铜颗粒氧化,还对纳米颗粒烧结过程有促进作用。280℃下无压烧结后的铜膏烧结接头剪切强度高达65 MPa,究其原因主要是烧结过程中形成的大尺寸块体铜颗粒的强化作用,以及铜膏烧结基体与上、下基板界面间形成了致密无缺陷的牢固冶金互连。铜膏烧结接头的形成主要由“颗粒-颗粒”间纳连接及“颗粒-基板”界面的纳连接而实现,前者以表面活性能高的小尺寸铜纳米颗粒为“桥梁”将大尺寸铜颗粒连接成致密块体铜,而后者借助乳酸铜高温下分解得到的铜纳米颗粒与基板间的互扩散和自扩散最终在界面形成连续且致密的纳连接层。烧结接头在空气中250℃时效1000 h后,铜膏烧结基体与界面处虽出现空洞,但仍具有高强度(大于56 MPa),表明铜膏烧结接头有较好的抗高温热氧化性能。 展开更多
关键词 纳米铜膏 双峰分布 无压烧结 纳连接 可靠性
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非醇醚类助焊剂及其焊膏的研究 被引量:2
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作者 白融 赵麦群 范欢 《电子工艺技术》 2012年第2期71-74,105,共5页
研究了多元醇类溶剂及其复配物对Sn0.3Ag0.7Cu焊膏性能的影响。结果表明:四氢糠醇和聚丙二醇对冰白和水白松香都具有较强的溶解性。当四氢糠醇和聚丙二醇以质量比9:1复配时,获得的焊膏平均铺展率可达87%以上,焊点完整、饱满、无焊球和... 研究了多元醇类溶剂及其复配物对Sn0.3Ag0.7Cu焊膏性能的影响。结果表明:四氢糠醇和聚丙二醇对冰白和水白松香都具有较强的溶解性。当四氢糠醇和聚丙二醇以质量比9:1复配时,获得的焊膏平均铺展率可达87%以上,焊点完整、饱满、无焊球和桥连等缺陷,储存时间较长,是一种综合性能良好的焊膏。 展开更多
关键词 Sn0.3Ag0.7cu焊锡膏 焊接性能 铺展率 储存稳定性
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银铜钛膏状钎料钎焊石墨和铜合金接头的微观组织及性能 被引量:2
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作者 刘严伟 曹磊 +3 位作者 许铁军 韩乐 訾鹏飞 姚达毛 《核聚变与等离子体物理》 CAS CSCD 北大核心 2020年第2期148-154,共7页
利用银铜钛(Ag-Cu-Ti)膏状钎料采用真空钎焊的方法对两种不同石墨和铜合金进行钎焊连接实验,研究了钎焊温度、中间缓冲层、母材尺寸等工艺参数对接头性能的影响。采用自行设计模具对接头的剪切强度进行了测试,利用扫描电镜和配带的X射... 利用银铜钛(Ag-Cu-Ti)膏状钎料采用真空钎焊的方法对两种不同石墨和铜合金进行钎焊连接实验,研究了钎焊温度、中间缓冲层、母材尺寸等工艺参数对接头性能的影响。采用自行设计模具对接头的剪切强度进行了测试,利用扫描电镜和配带的X射线能谱分析仪分析了接头界面组织形貌及元素物相成分。研究结果表明:当钎焊温度为910℃,保温时间10min时,Ag-Cu-Ti膏状钎料能够与石墨和无氧铜两侧母材形成良好的结合界面;与GA石墨相比,阿泰克石墨与无氧铜接头强度更高;采用1mm无氧铜做中间缓冲层钎焊石墨和铬锆铜时,能有效缓解钎焊热应力,接头强度有明显提高。 展开更多
关键词 银铜钛(Ag-cu-Ti)膏状钎料 真空钎焊 石墨 铜合金 剪切强度
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