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电沉积Cu(In,Ga)Se_2预置层硫化退火制备Cu(In,Ga)(Se,S)_2薄膜及表征 被引量:3
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作者 赖延清 匡三双 +4 位作者 刘芳洋 张治安 刘军 李劼 刘业翔 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2010年第2期1196-1201,共6页
在550℃下的H2S气氛中退火处理电沉积制备的Cu(In,Ga)Se2(CIGS)预置层,制备了太阳电池光吸收层Cu(In,Ga)(Se,S)2(CIGSS)薄膜.采用X射线能量色散谱、俄歇电子能谱、扫描电镜、X射线衍射和拉曼光谱对退火前后的薄膜进行表征.结果表明,H2S... 在550℃下的H2S气氛中退火处理电沉积制备的Cu(In,Ga)Se2(CIGS)预置层,制备了太阳电池光吸收层Cu(In,Ga)(Se,S)2(CIGSS)薄膜.采用X射线能量色散谱、俄歇电子能谱、扫描电镜、X射线衍射和拉曼光谱对退火前后的薄膜进行表征.结果表明,H2S气氛下退火能够实现薄膜中O的去除和S的掺入,同时使得各元素的纵向分布更加均匀并可消除Cu-Se微相.此外,H2S退火还可改善薄膜的结晶性能,并使S和Ga进入黄铜矿结构,薄膜晶格参数变小. 展开更多
关键词 cu(In ga)(se S)2 cu(In ga)se2 电沉积 H2S退火
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化学水浴沉积法制备硫化锌薄膜研究进展 被引量:2
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作者 崔占奎 邹正光 +1 位作者 龙飞 吴一 《无机盐工业》 CAS 北大核心 2008年第4期8-10,18,共4页
硫化锌薄膜是重要的半导体光电材料。分析了化学水浴沉积法制备硫化锌薄膜的原理与机制,重点阐述了制备过程的影响因素及工艺的优化。简要介绍了采用该工艺制备的硫化锌薄膜在Cu(In,Ga)Se2薄膜太阳电池方面的应用。最后指出硫化锌薄膜... 硫化锌薄膜是重要的半导体光电材料。分析了化学水浴沉积法制备硫化锌薄膜的原理与机制,重点阐述了制备过程的影响因素及工艺的优化。简要介绍了采用该工艺制备的硫化锌薄膜在Cu(In,Ga)Se2薄膜太阳电池方面的应用。最后指出硫化锌薄膜作为一种性能优良、制备成本低廉、对环境友好的功能薄膜材料具有良好的应用前景。 展开更多
关键词 化学水浴沉积 硫化锌薄膜 cu(In ga)se2 太阳电池
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掺Na制备柔性聚酰亚胺衬底CIGS薄膜太阳电池 被引量:4
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作者 姜伟龙 张力 +6 位作者 何青 刘玮 于涛 逢金波 李凤岩 李长健 孙云 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第2期222-226,共5页
研究了Na掺入对低温沉积柔性聚酰亚胺(PI)衬底Cu(In,Ga)Se2(CIGS)薄膜的结构和电学特性影响。研究结果表明:Na元素的掺入使Ga元素的扩散受到了阻滞,但对CIGS薄膜晶粒尺寸没有明显的影响,少量的Na可提高CIGS薄膜的载流子浓度和降低电阻率... 研究了Na掺入对低温沉积柔性聚酰亚胺(PI)衬底Cu(In,Ga)Se2(CIGS)薄膜的结构和电学特性影响。研究结果表明:Na元素的掺入使Ga元素的扩散受到了阻滞,但对CIGS薄膜晶粒尺寸没有明显的影响,少量的Na可提高CIGS薄膜的载流子浓度和降低电阻率;Na的掺入可明显提高CIGS薄膜太阳电池的器件特性,通过优化掺Na工艺,制备的柔性PI衬底—CIGS薄膜太阳电池的最高转换效率达到10.4%。 展开更多
关键词 cu(In ga)se2(CIGS)薄膜 柔性聚酰亚胺(PI)衬底 Na掺入 高转换效率
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Non-ionizing energy loss calculations for modeling electron-induced degradation of Cu(In,Ga)Se_2 thin-film solar cells
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作者 鲁明 徐晶 黄建微 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2016年第9期587-590,共4页
The lowest energies which make Cu,In,Ga,and Se atoms composing Cu(In,Ga)Se_2(CIGS) material displaced from their lattice sites are evaluated,respectively.The non-ionizing energy loss(NIEL) for electron in CIGS m... The lowest energies which make Cu,In,Ga,and Se atoms composing Cu(In,Ga)Se_2(CIGS) material displaced from their lattice sites are evaluated,respectively.The non-ionizing energy loss(NIEL) for electron in CIGS material is calculated analytically using the Mott differential cross section.The relation of the introduction rate(k) of the recombination centers to NIEL is modified,then the values of k at different electron energies are calculated.Degradation modeling of CIGS thin-film solar cells irradiated with various-energy electrons is performed according to the characterization of solar cells and the recombination centers.The validity of the modeling approach is verified by comparison with the experimental data. 展开更多
关键词 cu(In gase_2 solar cells non-ionizing energy loss electron irradiation
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