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基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
被引量：
1
1
作者
唐彩彬
《电子与封装》
2022年第3期30-34,共5页
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试...
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试。该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考。
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关键词
ATE
chroma
3380
p
USB
p
D
晶圆测试
下载PDF
职称材料
题名
基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
被引量：
1
1
作者
唐彩彬
机构
中科芯集成电路有限公司
出处
《电子与封装》
2022年第3期30-34,共5页
文摘
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试。该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考。
关键词
ATE
chroma
3380
p
USB
p
D
晶圆测试
Keywords
ATE
chroma
3380
p
USB
p
D
chi
p
p
robe
test
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
唐彩彬
《电子与封装》
2022
1
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