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高分辨率遥感相机CCD器件精密热控制 被引量:15
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作者 鲁盼 赵振明 颜吟雪 《航天返回与遥感》 2014年第4期59-66,共8页
针对某高分辨率空间遥感相机电荷耦合器件(Charge-Coupled Device,CCD)体积小、功耗大但温度稳定性要求高的特点,提出了通过相机发送指令控制补偿加热回路通、断电对CCD器件进行温度控制的方法,并利用IDEAS-TMG软件进行了仿真分析,分别... 针对某高分辨率空间遥感相机电荷耦合器件(Charge-Coupled Device,CCD)体积小、功耗大但温度稳定性要求高的特点,提出了通过相机发送指令控制补偿加热回路通、断电对CCD器件进行温度控制的方法,并利用IDEAS-TMG软件进行了仿真分析,分别给出了无补偿功率、补偿功率为10W、12.5W、15W与17.5W这5种情况下CCD器件的温度变化曲线。仿真分析结果表明:补偿功率为12.5W时CCD器件的温度波动最小,热设计结果满足各项温度指标。为了验证热设计的可靠性,焦面组件参加了整机的热平衡试验,得到了满意的结果。该设计方法对各类空间遥感相机高温度稳定性要求的CCD器件的热设计和热分析有一定的指导和借鉴作用。 展开更多
关键词 遥感相机 电荷耦合器件 热控制 热试验 空间技术
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载荷探测器像元满阱参数测试 被引量:2
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作者 常振 王煜 +3 位作者 林方 赵欣 黄书华 司福祺 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第13期1542-1554,共13页
在CCD成像电路的研发过程中,为了确保CCD达到最优的满阱性能,需要不断调整CCD驱动信号参数并进行满阱测试,该过程通常需要重复几十甚至上百次。通用的光子转移曲线法需要积分球等设备搭建平场光源,系统复杂,满阱测试效率较低。提出了一... 在CCD成像电路的研发过程中,为了确保CCD达到最优的满阱性能,需要不断调整CCD驱动信号参数并进行满阱测试,该过程通常需要重复几十甚至上百次。通用的光子转移曲线法需要积分球等设备搭建平场光源,系统复杂,满阱测试效率较低。提出了一种满阱测试方法——LED点测试法,该方法通过光子转移曲线法获取系统增益后,仅通过搭建LED点光源配合普通民品镜头即可实现CCD满阱测试。基于载荷CCD成像电路,使用LED点测试法进行测试。结果表明,载荷CCD的满阱电子数可达817.013ke^(-),误差不大于0.643%。针对LED点测试的同组数据采用传统满阱测试方法进行测试,对比结果表明,LED点测试法和传统测试方法相对光子转移曲线法的误差分别为0.0397%和1.9%。LED点测试法可用作简易条件下快速测量CCD满阱的通用方法,能够提升CCD成像电路的研发效率。 展开更多
关键词 电荷耦合器件 满阱容量 光子转移曲线 LED点测试法 数据拟合
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基于线阵CCD的弹药质量无损检测仿真 被引量:1
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作者 李良宇 王晶 《计算机仿真》 北大核心 2020年第7期4-8,共5页
针对传统方法对弹药质量检测的正确率较低,并且有漏检现象,提出一种基于线阵CCD(Charge-coupled Device)的弹药质量无损检测,首先将弹药沿着直径位置和测量系统做相对运动,通过计算弹药直径,得到线阵CCD的测试原理。接着对测量图像采用... 针对传统方法对弹药质量检测的正确率较低,并且有漏检现象,提出一种基于线阵CCD(Charge-coupled Device)的弹药质量无损检测,首先将弹药沿着直径位置和测量系统做相对运动,通过计算弹药直径,得到线阵CCD的测试原理。接着对测量图像采用均值的方式去除噪声,同时利用锐化方式逆运算增强图像,减少其在传输的过程中出现的模糊现象,通过灰度分割凸显待检测弹药特征,测量出弹药几何大小,计算其特征参数,最后经过图像识别完成弹药质量无损分类检测。经过仿真证明,所提方法的检测结果正确率要远远高于传统方法,且无漏检现象。 展开更多
关键词 线阵 弹药质量 图像增强 图像分割 无损检测
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大芯径光纤出射环形斑谱线分析
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作者 陈淑鑫 孙伟民 +2 位作者 闫奇 张琼 蒋航 《天文研究与技术》 CSCD 2018年第4期432-440,共9页
光纤光谱的效率损失主要来源之一是光纤的焦比退化,并且往往还在光谱成像时因焦比退化产生环形出射斑,从而使得光纤传输效率降低,并影响色散之后的谱线轮廓。实验获取郭守敬望远镜调试阶段的大芯径光纤因焦比退化产生的出射环型斑貌,结... 光纤光谱的效率损失主要来源之一是光纤的焦比退化,并且往往还在光谱成像时因焦比退化产生环形出射斑,从而使得光纤传输效率降低,并影响色散之后的谱线轮廓。实验获取郭守敬望远镜调试阶段的大芯径光纤因焦比退化产生的出射环型斑貌,结合CCD光谱图像特点实施轮廓拟合抽谱方法,把二维CCD光谱图像转换成一维光谱,选取望远镜红端数据进行模拟,采样点在500~600 nm波段范围,在该波段中有铁的发射线。通过与获得的环形斑轮廓卷积研究焦比变化对铁发射线峰的影响。最后,正确阐明在正式巡天观测时主镜前悬挂平场漫反射屏消除环形斑引发的偏差的效果。 展开更多
关键词 焦比退化 环形斑 二维光纤光谱 CCD检测 郭守敬望远镜
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4096×4096元全帧转移CCD的设计和研制
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作者 王颖 权利 +1 位作者 张坤 周建勇 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2011年第6期762-764,共3页
重点讨论了像元尺寸为11μm×11μm的4096×4096元可见光CCD全帧转移结构和技术性能参数的设计,采用CCD埋沟工艺和辐射加固技术,研制出了高性能4096×4096元可见光CCD。结果表明器件动态范围达到75dB,读出噪声电子数为30,... 重点讨论了像元尺寸为11μm×11μm的4096×4096元可见光CCD全帧转移结构和技术性能参数的设计,采用CCD埋沟工艺和辐射加固技术,研制出了高性能4096×4096元可见光CCD。结果表明器件动态范围达到75dB,读出噪声电子数为30,暗电流产生率为2mV/s,响应非均匀性为2%,非线性为0.4%,且具有抗γ射线辐射能力。 展开更多
关键词 全帧转移CCD设计与研制 测试结果
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微光CCD噪声测试研究 被引量:4
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作者 柏连发 周建勋 张保民 《南京理工大学学报》 CAS CSCD 1994年第3期54-56,共3页
该文在大量实践与调研工作的基础上,分析比较了目前国内外有关CCD(电荷耦合器件)噪声参数的各种测试方案,阐述了微光CCD噪声参数的测试技术与方法。
关键词 电荷耦合器件 微光 噪声测试
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CCD满阱自动化检测系统及其在相机研制中的应用 被引量:1
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作者 林方 刘文清 +2 位作者 王煜 常振 司福祺 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第11期192-203,共12页
在相机研制过程中,电路参数的每次调整都伴随着对相机输出满阱的测试,参数调整繁复,满阱测试的次数过多。为获得最佳的满阱输出性能,对电路各项参数进行精确匹配,提高满阱测试的效率,设计了一套自动化满阱性能测试平台。研究了影响电荷... 在相机研制过程中,电路参数的每次调整都伴随着对相机输出满阱的测试,参数调整繁复,满阱测试的次数过多。为获得最佳的满阱输出性能,对电路各项参数进行精确匹配,提高满阱测试的效率,设计了一套自动化满阱性能测试平台。研究了影响电荷耦合器件满阱性能的因素,建立了光子转移曲线模型,提出了一种光子转移曲线快速取点法,并讨论了模型和方法在满阱测试中的应用。搭建了包括光源系统、成像电路、和温度采集系统在内的测试平台,并完成了自动化流程的软硬件设计。将该测试平台应用于在研相机的测试,验证了平台构造和测试方法的正确性,测量精度优于±1.6%,满足科学级相机的研制使用要求。 展开更多
关键词 电荷耦合器件 光子转移曲线 电路参数匹配 满阱性能 自动测试平台
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用于微光探测器的天文杜瓦
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作者 葛瑞宏 毕龙生 +1 位作者 曹慎诚 聂裕民 《中国空间科学技术》 CSCD 北大核心 1995年第1期47-52,共6页
综述了天文用CCD激光探测器对天文杜瓦的要求,介绍了研制的TWD型杜瓦的特点和试验情况。试验结果表明,在无探测腔时,Ⅱ型和Ⅲ型杜瓦容器的技术指标分别达到:有效容积2.5L和1.25L;质量2.05kg和3.02kg;... 综述了天文用CCD激光探测器对天文杜瓦的要求,介绍了研制的TWD型杜瓦的特点和试验情况。试验结果表明,在无探测腔时,Ⅱ型和Ⅲ型杜瓦容器的技术指标分别达到:有效容积2.5L和1.25L;质量2.05kg和3.02kg;液氮保存期110h和116h.真空寿命达2年以上.接探测腔后,Ⅱ型杜瓦液氮保存期为40h;CCD冷盘温度可达到-100~-120℃. 展开更多
关键词 电荷耦合器件 微光探测器 液氮杜瓦 制冷装置
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一种新的TDI IRCCD驱动与测试系统设计(英文)
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作者 赖睿 周慧鑫 +1 位作者 李庆 王炳健 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期115-119,共5页
基于可视化交互式控制思想,本文提出了一种新的针对延时积分IRCCD的驱动与测试系统方案。不同于传统的驱动电路系统,该系统由主从两大系统构成,其中作为人机接口的主系统主要完成电参数的输入和测试结果的显示,而从系统一方面可根据主... 基于可视化交互式控制思想,本文提出了一种新的针对延时积分IRCCD的驱动与测试系统方案。不同于传统的驱动电路系统,该系统由主从两大系统构成,其中作为人机接口的主系统主要完成电参数的输入和测试结果的显示,而从系统一方面可根据主系统所设置的电参数自动产生高精度的任意可调驱动信号,另一方面则完成对IRCCD器件的电注入测试。实验结果表明新的设计有效地克服了传统设计所固有的缺陷,显著提高了系统的可靠性、灵活性和精度。 展开更多
关键词 红外电耦合器件 驱动电路 电注入测试 红外成像
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