期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
电子系统BIT设计技术初探
被引量：
15
1
作者
张小林
刘海彬
《中国测试技术》
2008年第3期80-83,共4页
BIT(自检)是电子系统可测试性设计的重要组成部分,是电子系统或设备内部检测和隔离故障的重要手段。首先对电子系统BIT设计的定性及定量要求、基本方法及设计思路进行系统的阐述分析,结合电子系统或设备故障检测与隔离的难点,对国内外...
BIT(自检)是电子系统可测试性设计的重要组成部分,是电子系统或设备内部检测和隔离故障的重要手段。首先对电子系统BIT设计的定性及定量要求、基本方法及设计思路进行系统的阐述分析,结合电子系统或设备故障检测与隔离的难点,对国内外电子系统的可测试性新技术进行了介绍,并对这些技术应用于电子系统BIT的方法及可行性进行了分析说明。最后提出通过制定良好的BIT层次结构,运用边界扫描、维修总线等新技术,以及并行设计等开发模式,可以极大地提高电子系统或装备的BIT能力。
展开更多
关键词
BIT(
built
in
test)技术
bite
(
built
in
TEST
equipment)
MTM
JTAG
LRU
下载PDF
职称材料
题名
电子系统BIT设计技术初探
被引量：
15
1
作者
张小林
刘海彬
机构
中电集团公司第
出处
《中国测试技术》
2008年第3期80-83,共4页
文摘
BIT(自检)是电子系统可测试性设计的重要组成部分,是电子系统或设备内部检测和隔离故障的重要手段。首先对电子系统BIT设计的定性及定量要求、基本方法及设计思路进行系统的阐述分析,结合电子系统或设备故障检测与隔离的难点,对国内外电子系统的可测试性新技术进行了介绍,并对这些技术应用于电子系统BIT的方法及可行性进行了分析说明。最后提出通过制定良好的BIT层次结构,运用边界扫描、维修总线等新技术,以及并行设计等开发模式,可以极大地提高电子系统或装备的BIT能力。
关键词
BIT(
built
in
test)技术
bite
(
built
in
TEST
equipment)
MTM
JTAG
LRU
Keywords
BIT
bite
MTM
JTAG
LRU
分类号
O242.1 [理学—计算数学]
TP751 [理学—数学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
电子系统BIT设计技术初探
张小林
刘海彬
《中国测试技术》
2008
15
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
