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Al掺杂TiO_2多孔薄膜的制备及其染料吸附性研究
1
作者
宫明
许启明
杨春利
《化工新型材料》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第5期78-80,共3页
采用溶胶-凝胶法在普通玻璃基底上制备了Al3+掺杂的TiO2薄膜,采用X射线粉末衍射仪(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)和紫外-可见分光光度计,分析了Al3+掺杂量对TiO2薄膜的微结构、表面形貌以及染料吸附特性的影响。结果表明:Al3+的掺杂能...
采用溶胶-凝胶法在普通玻璃基底上制备了Al3+掺杂的TiO2薄膜,采用X射线粉末衍射仪(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)和紫外-可见分光光度计,分析了Al3+掺杂量对TiO2薄膜的微结构、表面形貌以及染料吸附特性的影响。结果表明:Al3+的掺杂能够抑制TiO2晶粒的生长,提高薄膜表面均匀度;但是Al3+含量过高,会造成当TiO2薄膜对染料的吸附量减小时,吸光度降低。因此,Al3+的掺杂量在TiO2摩尔量的1%左右时,薄膜具有较好的多孔结构和染料吸附量。
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关键词
al
3+
掺杂
tio
2
薄膜
染料吸附量
溶胶-凝胶法
多孔结构
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职称材料
题名
Al掺杂TiO_2多孔薄膜的制备及其染料吸附性研究
1
作者
宫明
许启明
杨春利
机构
西安建筑科技大学材料科学与工程学院
出处
《化工新型材料》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第5期78-80,共3页
基金
中国博士后科学基金资助项目
陕西省教育厅科学研究项目(12JK0598)(2010JK643)1
文摘
采用溶胶-凝胶法在普通玻璃基底上制备了Al3+掺杂的TiO2薄膜,采用X射线粉末衍射仪(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)和紫外-可见分光光度计,分析了Al3+掺杂量对TiO2薄膜的微结构、表面形貌以及染料吸附特性的影响。结果表明:Al3+的掺杂能够抑制TiO2晶粒的生长,提高薄膜表面均匀度;但是Al3+含量过高,会造成当TiO2薄膜对染料的吸附量减小时,吸光度降低。因此,Al3+的掺杂量在TiO2摩尔量的1%左右时,薄膜具有较好的多孔结构和染料吸附量。
关键词
al
3+
掺杂
tio
2
薄膜
染料吸附量
溶胶-凝胶法
多孔结构
Keywords
al
-doped
tio
2
film,
dye
absorp
tio
n,
sol-gel,
porous
structure
分类号
TB383.2 [一般工业技术—材料科学与工程]
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作者
出处
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1
Al掺杂TiO_2多孔薄膜的制备及其染料吸附性研究
宫明
许启明
杨春利
《化工新型材料》
CAS
CSCD
北大核心
2012
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