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CZTSSe薄膜与Mo背电极接触特性的数值分析
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作者 庄楚楠 许佳雄 林俊辉 《广东工业大学学报》 CAS 2020年第3期106-113,共8页
为分析CZTSSe薄膜太阳能电池的背电极接触特性,采用AFORS-HET(Automat for Simulation of HETerostructures)v2.5软件对CZTSSe/Mo(S,Se)2/Mo结构进行数值分析,研究CZTSSe的带隙和电子亲和能、Mo(S,Se)2界面层的厚度以及带隙对CZTSSe与M... 为分析CZTSSe薄膜太阳能电池的背电极接触特性,采用AFORS-HET(Automat for Simulation of HETerostructures)v2.5软件对CZTSSe/Mo(S,Se)2/Mo结构进行数值分析,研究CZTSSe的带隙和电子亲和能、Mo(S,Se)2界面层的厚度以及带隙对CZTSSe与Mo电极的电学接触特性的影响。结果表明CZTSSe的带隙和电子亲和能的增大,使得CZTSSe/Mo(S,Se)2/Mo的欧姆接触减弱并向整流接触转变;对于带隙较窄的CZTSSe,加入界面层使CZTSSe/Mo(S,Se)2/Mo形成的欧姆接触转变为整流接触,随着界面层厚度的增大,整流接触逐渐减弱;对于带隙较宽的CZTSSe,加入2 nm的界面层使得CZTSSe/Mo(S,Se)2/Mo形成的整流接触增强,但随着界面层厚度的继续增大,整流接触减弱。当CZTSSe的带隙和电子亲和能较小时,CZTSSe/Mo(S,Se)2/Mo形成欧姆接触,控制界面层厚度为100 nm左右可以得到最优的电学接触特性。 展开更多
关键词 CZTSSe Mo(S Se)2界面层 背电极接触 I-V特性 afors-het软件
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基于AFORS-HET软件模拟分析p-CuSCN/n-ZnO透明异质结的J-V特性曲线
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作者 熊超 顾翼凌 +3 位作者 曹婕 肖进 陆肖苏 陈磊 《海峡科技与产业》 2016年第2期67-71,共5页
利用AFORS-HET软件模拟得出p-Cu SCN/n-Zn O异质结在不同光区的J-V特性曲线各不相同,无光照、普通日光、可见光区、红外光区的J-V特性曲线走势大体相同并都为负值。然后与n-Cu SCN/p-Cu SCN和n-Zn O/p-Zn O的J-V特性曲线相互比较,可知... 利用AFORS-HET软件模拟得出p-Cu SCN/n-Zn O异质结在不同光区的J-V特性曲线各不相同,无光照、普通日光、可见光区、红外光区的J-V特性曲线走势大体相同并都为负值。然后与n-Cu SCN/p-Cu SCN和n-Zn O/p-Zn O的J-V特性曲线相互比较,可知这种现象是p-Cu SCN/n-Zn O异质结所独有的。紫外光区[1]的J-V特性曲线与其余光区大不相同,并且为正值。造成正负差异的原因是由于p-Cu SCN/n-Zn O异质结中少数载流子的漂移运动[2-3]为主体运动。最终得出结论,利用p-Cu SCN/n-Zn O透明异质结来制备紫外探测器在理论上是可行的。 展开更多
关键词 硫氰酸亚铜 氧化锌 紫外光 afors-het软件
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