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9—28keV　电子引起的Cu的K壳层电子电离截面 被引量：1
1
作者 何福庆 龙先灌 +3 位作者 刘慢天 彭秀峰 罗正明 安竹 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 1995年第2期133-138,共6页
用高分辨的Ｓｔ（Ｌｉ）探测器测量Ｃｕ靶在９—２８ｋｅＶ的电子轰击下产生的Ｋ壳层特征Ｘ射线，以确定其Ｋ壳层电子的电离截面。运用用电子输运双群模型对衬底的反射对电离的贡献进行了修正。测量结果与前人的实验和经验公式计算结果... 用高分辨的Ｓｔ（Ｌｉ）探测器测量Ｃｕ靶在９—２８ｋｅＶ的电子轰击下产生的Ｋ壳层特征Ｘ射线，以确定其Ｋ壳层电子的电离截面。运用用电子输运双群模型对衬底的反射对电离的贡献进行了修正。测量结果与前人的实验和经验公式计算结果作了比较。 展开更多
关键词 铜 K壳层电子 电离截面 9-28kev电子
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