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三端双向负阻晶体管的二维数值模拟及分析
1
作者
莫太山
张世林
+3 位作者
郭维廉
梁惠来
毛陆虹
郑云光
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期614-617,623,共5页
对双向负阻晶体管(BNRT)的三端特性进行了数值模拟,得到了器件S型负阻曲线。根据BNRT不同工作状态下的内部电势、电子浓度和空穴浓度分布,解释了其S型负阻特性的产生机理。模拟分析了负阻曲线随控制电压变化的情况。结果表明,随控制...
对双向负阻晶体管(BNRT)的三端特性进行了数值模拟,得到了器件S型负阻曲线。根据BNRT不同工作状态下的内部电势、电子浓度和空穴浓度分布,解释了其S型负阻特性的产生机理。模拟分析了负阻曲线随控制电压变化的情况。结果表明,随控制电压的增大,转折电压、转折电流和维持电压均增大。最后,对不同结构和工艺参数的三端BNRT进行了模拟,总结出器件结构和工艺参数对负阻特性的影响。
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关键词
三端双向负阻晶体管
二维数值模拟
S型负阻
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职称材料
题名
三端双向负阻晶体管的二维数值模拟及分析
1
作者
莫太山
张世林
郭维廉
梁惠来
毛陆虹
郑云光
机构
天津大学电子信息工程学院微电子系
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期614-617,623,共5页
基金
国家重点基础研究973资助项目(2002CB311905)
文摘
对双向负阻晶体管(BNRT)的三端特性进行了数值模拟,得到了器件S型负阻曲线。根据BNRT不同工作状态下的内部电势、电子浓度和空穴浓度分布,解释了其S型负阻特性的产生机理。模拟分析了负阻曲线随控制电压变化的情况。结果表明,随控制电压的增大,转折电压、转折电流和维持电压均增大。最后,对不同结构和工艺参数的三端BNRT进行了模拟,总结出器件结构和工艺参数对负阻特性的影响。
关键词
三端双向负阻晶体管
二维数值模拟
S型负阻
Keywords
3
-
terminal
bnrt
Numerical
simulation
S-type
negative
resistance
分类号
TN323.6 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
三端双向负阻晶体管的二维数值模拟及分析
莫太山
张世林
郭维廉
梁惠来
毛陆虹
郑云光
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2004
0
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