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基于掉电数据存储的耐压绝缘测试系统设计 被引量：1
1
作者 可晓海 古丽江.库尔班 +2 位作者 常莉丽 王平 路翀 《电子设计工程》 2014年第3期124-128,共5页
应用非易失性存储芯片24C16与单片机相连接,设计了一种基于掉电数据存储的耐压绝缘测试系统,详细说明了掉电数据存储的耐压绝缘测试系统的设计思路和硬件电路结构,编写了相应的读写程序。这种串行非易失性存储技术具有高速读写、百万次... 应用非易失性存储芯片24C16与单片机相连接,设计了一种基于掉电数据存储的耐压绝缘测试系统,详细说明了掉电数据存储的耐压绝缘测试系统的设计思路和硬件电路结构,编写了相应的读写程序。这种串行非易失性存储技术具有高速读写、百万次擦写寿命和数据保存时间长的优点,能极大提高系统的适用范围和系统的测试效率。 展开更多
关键词 耐压绝缘测试 24wc16芯片 掉电数据存储 单片机
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