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单片机技术在时间继电器测试中的研究 被引量:2
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作者 钱金川 朱守敏 《机床电器》 2005年第6期8-10,共3页
本文介绍时间继电器延时参数的测试,并对单片机测试框图以及软件流程也进行了相应介绍。另外对检测的外围线路以及对在检测过程中的电磁兼容EMC问题也进行了相关介绍和说明。
关键词 时间继电器延时参数测试 单片机工作框图 软件流程图 外围硬件线路及EMC介绍
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单片机技术在时间继电器测试中的应用 被引量:2
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作者 钱金川 朱守敏 《电气应用》 北大核心 2006年第1期38-40,58,共4页
介绍时间继电器延时参数的测试,单片机测试框图以及软件流程。另外对检测的外围线路以及对在检测过程中的电磁兼容EMC问题也进行了相关介绍和说明。
关键词 时间继电器 延时参数测试 单片机 外围硬件线路 EMC
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