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Cu单晶体驻留滑移带的形成与消失 被引量:7
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作者 朱荣 李守新 +2 位作者 李勇 李明扬 晁月盛 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第5期467-470,共4页
在循环加载条件下,单滑移取向的Cu单晶体首先出现驻留滑移线(PSL),然后随着循环周次的增加转变为驻留滑移带(PSB),在不同温度、不同时间条件下对疲劳Cu单晶进行真空退火处理,观察PSB结构在热激活条件下的变化情况,结果表明,退火处理过... 在循环加载条件下,单滑移取向的Cu单晶体首先出现驻留滑移线(PSL),然后随着循环周次的增加转变为驻留滑移带(PSB),在不同温度、不同时间条件下对疲劳Cu单晶进行真空退火处理,观察PSB结构在热激活条件下的变化情况,结果表明,退火处理过程中由于空位浓度差异所产生的渗透力促使位错运动,并使PSB的某些部位逐步细化,以至消失,实现了PSB的分段相消,在退火过程中由于应变能的逐步释放,未观察到再结晶现象。 展开更多
关键词 Cu单晶体 驻留滑移线 驻留滑移 渗透力 分段相消
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