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SOC芯片设计与测试
被引量：
4
1
作者
谈颖莉
戎蒙恬
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期64-67,75,共5页
SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。
关键词
单芯片系统
面向
测试
设计
面向
制造
设计
位失效图
自动
测试
设备
下载PDF
职称材料
题名
SOC芯片设计与测试
被引量：
4
1
作者
谈颖莉
戎蒙恬
机构
上海贝岭技术中心
上海交通大学
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期64-67,75,共5页
文摘
SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。
关键词
单芯片系统
面向
测试
设计
面向
制造
设计
位失效图
自动
测试
设备
Keywords
SOC
DFT(design-for-test)
BFM(bit fail map)
DFM(design-for-manufacturability
ATE(automatic test equipment)
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SOC芯片设计与测试
谈颖莉
戎蒙恬
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
4
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