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中间像面非理想成像的近红外折反射系统光学装调方法
1
作者
陈太喜
王金鑫
+4 位作者
黄贺
张斌智
李鑫
丘敏艳
张鑫
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2024年第5期208-217,共10页
近年来,基于中间像面非理想成像的近红外折反射系统应用广泛,但由于该波段干涉仪的价格昂贵且难以维护,其应用并不普及,因此在该类系统集成阶段,通常只能采用传统的机械特征定位方式(例如采用中心偏测量仪辅助定位)进行装调。由于传统...
近年来,基于中间像面非理想成像的近红外折反射系统应用广泛,但由于该波段干涉仪的价格昂贵且难以维护,其应用并不普及,因此在该类系统集成阶段,通常只能采用传统的机械特征定位方式(例如采用中心偏测量仪辅助定位)进行装调。由于传统机械定位方法无法直接借助干涉仪对系统出瞳波像差进行实时高精度监测,即不能通过观察各视场像差变化规律来指导装调,导致系统的装调效率和精度通常难以保证。针对一个口径为150 mm、焦距为450 mm的中间像面非理想成像近红外折反射系统的高精度光学装调方法开展研究,通过对系统中继透镜组透镜薄膜进行包含常用干涉仪工作波长(λ@632.8 nm)的设计,来实现利用可见光激光干涉仪对系统波像差进行高精度检测的目的,然后研究了系统各装调自由度和系统初级波像差的敏感度关系,以失调敏感度单变量分析为基础,分析了各失调维度间的耦合作用特性,在此基础上提出了次镜和中继镜组相互反复迭代联调的光学装调方案。整机装调后,光学系统各视场波前误差(RMS)和设计仿真结果数值大小大致相同,方向一致,均达到成像质量要求。
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关键词
光学系统装调
折反射系统
迭代联调
非
理想
成像
下载PDF
职称材料
推扫型高光谱数据光串扰校正方法研究
被引量：
2
2
作者
陶东兴
贾国瑞
+2 位作者
赵慧洁
袁艳
马艳华
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第11期3141-3146,共6页
串扰是成像光谱仪非理想成像特性中的一种,分为电串扰和光串扰,它广泛存在于现有的成像光谱仪之中。推扫型高光谱数据的光串扰使目标像元受到临近像元的影响,目标像元光谱曲线发生变化,图像的清晰度降低。基于推扫型成像光谱仪的成像原...
串扰是成像光谱仪非理想成像特性中的一种,分为电串扰和光串扰,它广泛存在于现有的成像光谱仪之中。推扫型高光谱数据的光串扰使目标像元受到临近像元的影响,目标像元光谱曲线发生变化,图像的清晰度降低。基于推扫型成像光谱仪的成像原理,提出一种针对推扫型高光谱数据的光串扰校正方法。从高光谱数据中选取包含白色定标布地物的区域作为参考数据,通过行间差值方法得到所有白色定标布像元产生的总光串扰量;对总光串扰量进行拟合以抑制噪声,并通过递归方法计算单个白色定标布像元所产生的光串扰量;使用该串扰量对整景数据进行光串扰校正。选用三景不同地物类型的PHI数据进行光串扰校正,结果显示,校正后数据的光串扰现象得到明显的抑制,数据质量在光谱维和空间维均得到有效提升。在光谱维,由光串扰引起的光谱曲线变化得到校正;在空间维,图像清晰度提高50%以上的波段数占总波段数的83%。校正方法直接从高光谱数据本身提取光串扰量,并对数据光串扰现象进行校正,不依赖于其他外部数据,且适用于不同的地物类型。该光串扰校正方法亦对实验室测定成像光谱仪的光串扰量具有借鉴意义。
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关键词
高光谱数据
非
理想
成像
光串扰
预处理
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职称材料
题名
中间像面非理想成像的近红外折反射系统光学装调方法
1
作者
陈太喜
王金鑫
黄贺
张斌智
李鑫
丘敏艳
张鑫
机构
季华实验室
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2024年第5期208-217,共10页
基金
广东省重点领域研发计划资助项目(2018B030328001)。
文摘
近年来,基于中间像面非理想成像的近红外折反射系统应用广泛,但由于该波段干涉仪的价格昂贵且难以维护,其应用并不普及,因此在该类系统集成阶段,通常只能采用传统的机械特征定位方式(例如采用中心偏测量仪辅助定位)进行装调。由于传统机械定位方法无法直接借助干涉仪对系统出瞳波像差进行实时高精度监测,即不能通过观察各视场像差变化规律来指导装调,导致系统的装调效率和精度通常难以保证。针对一个口径为150 mm、焦距为450 mm的中间像面非理想成像近红外折反射系统的高精度光学装调方法开展研究,通过对系统中继透镜组透镜薄膜进行包含常用干涉仪工作波长(λ@632.8 nm)的设计,来实现利用可见光激光干涉仪对系统波像差进行高精度检测的目的,然后研究了系统各装调自由度和系统初级波像差的敏感度关系,以失调敏感度单变量分析为基础,分析了各失调维度间的耦合作用特性,在此基础上提出了次镜和中继镜组相互反复迭代联调的光学装调方案。整机装调后,光学系统各视场波前误差(RMS)和设计仿真结果数值大小大致相同,方向一致,均达到成像质量要求。
关键词
光学系统装调
折反射系统
迭代联调
非
理想
成像
Keywords
optical system alignment
catadioptric system
iterative alignment
imperfect imaging
分类号
TH74 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
推扫型高光谱数据光串扰校正方法研究
被引量：
2
2
作者
陶东兴
贾国瑞
赵慧洁
袁艳
马艳华
机构
北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院精密光机电一体化技术教育部重点实验室
中国科学院上海技术物理研究所
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第11期3141-3146,共6页
基金
国家(863计划)项目(2008AA121102,2009AA12Z119)资助
文摘
串扰是成像光谱仪非理想成像特性中的一种,分为电串扰和光串扰,它广泛存在于现有的成像光谱仪之中。推扫型高光谱数据的光串扰使目标像元受到临近像元的影响,目标像元光谱曲线发生变化,图像的清晰度降低。基于推扫型成像光谱仪的成像原理,提出一种针对推扫型高光谱数据的光串扰校正方法。从高光谱数据中选取包含白色定标布地物的区域作为参考数据,通过行间差值方法得到所有白色定标布像元产生的总光串扰量;对总光串扰量进行拟合以抑制噪声,并通过递归方法计算单个白色定标布像元所产生的光串扰量;使用该串扰量对整景数据进行光串扰校正。选用三景不同地物类型的PHI数据进行光串扰校正,结果显示,校正后数据的光串扰现象得到明显的抑制,数据质量在光谱维和空间维均得到有效提升。在光谱维,由光串扰引起的光谱曲线变化得到校正;在空间维,图像清晰度提高50%以上的波段数占总波段数的83%。校正方法直接从高光谱数据本身提取光串扰量,并对数据光串扰现象进行校正,不依赖于其他外部数据,且适用于不同的地物类型。该光串扰校正方法亦对实验室测定成像光谱仪的光串扰量具有借鉴意义。
关键词
高光谱数据
非
理想
成像
光串扰
预处理
Keywords
Hyperspectral data
Non-ideal imaging
Optical crosstalk
Preprocessing
分类号
TP751 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
中间像面非理想成像的近红外折反射系统光学装调方法
陈太喜
王金鑫
黄贺
张斌智
李鑫
丘敏艳
张鑫
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2024
0
下载PDF
职称材料
2
推扫型高光谱数据光串扰校正方法研究
陶东兴
贾国瑞
赵慧洁
袁艳
马艳华
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014
2
下载PDF
职称材料
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