TH703 2005010651 光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度=Uncertainty of spot moment parameters measured with array detectors [刊,中]／高学燕(中物院应用电子学研究所．四川,绵阳 (621900)),苏毅…∥光学学报．-2004,24(10)．-1411...TH703 2005010651 光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度=Uncertainty of spot moment parameters measured with array detectors [刊,中]／高学燕(中物院应用电子学研究所．四川,绵阳 (621900)),苏毅…∥光学学报．-2004,24(10)．-1411- 1416 为计算和评估光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度,以光斑矩参量积分表达式为出发点,推导了零阶近似下光斑矩参量的离散表达式,初步分析了光强分布数据中单元位置及探测光功率的测量不确定度。在此基础上。展开更多
Y2000-62359-145 0018683现场可编程序门阵列与正则阵列测试=Testing FP-GAs and regular arrays[会,英]//Proceedings of theIEEE European Test Workshop(ETW99).—145～157(PC)本部分收入2篇论文。题名为:基于 SRAM 的FPGA 逻辑单元...Y2000-62359-145 0018683现场可编程序门阵列与正则阵列测试=Testing FP-GAs and regular arrays[会,英]//Proceedings of theIEEE European Test Workshop(ETW99).—145～157(PC)本部分收入2篇论文。题名为:基于 SRAM 的FPGA 逻辑单元的测试配置极小化和 FPGA 的自动测试设计。展开更多
文摘TH703 2005010651 光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度=Uncertainty of spot moment parameters measured with array detectors [刊,中]／高学燕(中物院应用电子学研究所．四川,绵阳 (621900)),苏毅…∥光学学报．-2004,24(10)．-1411- 1416 为计算和评估光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度,以光斑矩参量积分表达式为出发点,推导了零阶近似下光斑矩参量的离散表达式,初步分析了光强分布数据中单元位置及探测光功率的测量不确定度。在此基础上。
文摘Y2000-62359-145 0018683现场可编程序门阵列与正则阵列测试=Testing FP-GAs and regular arrays[会,英]//Proceedings of theIEEE European Test Workshop(ETW99).—145～157(PC)本部分收入2篇论文。题名为:基于 SRAM 的FPGA 逻辑单元的测试配置极小化和 FPGA 的自动测试设计。
