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单向双端口SRAM的测试算法 被引量：1
1
作者 刘伟 周玉梅 叶青 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期89-92,共4页
描述了一种检测单向双端口 SRAM失效的算法 ,采用了基于字的测试方法 ,可以有效地检测字间失效、字内失效和同时读写失效 ,具有失效覆盖率高和测试时间复杂度低的优点。
关键词 单向双端口静态存储器 失效模型 队列测试
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