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智能电路板的闭环测试与故障诊断 被引量：18
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作者 门瑞霞 石春和 《微计算机信息》 北大核心 2005年第1期158-159,共2页
对于智能电路板(含有CPU的电路板)的测试与故障诊断是该领域的难点,本文介绍了对该种电路板进行测试与故障诊断的一种新方法,及其实现过程。
关键词 智能电路板 闭环测试与故障诊断 串行通信 波形再现
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