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Cl2/H2 ICP刻蚀优化及其在1.55μm DFB激光器制作中的应用 被引量:2
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作者 江山 董雷 +2 位作者 张瑞康 罗勇 谢世钟 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期583-586,共4页
采用特别设计的InGaAsP/InP多量子阱结构(MQW),研究了Cl2/H2电感耦合等离子体(ICP)刻蚀损伤,优化了低损伤ICP刻蚀的关键工艺参数,得到了一种低损伤、形貌良好的Bragg光栅的制作方法。结合优化的InP材料金属有机物化学气相沉积(MOCVD)外... 采用特别设计的InGaAsP/InP多量子阱结构(MQW),研究了Cl2/H2电感耦合等离子体(ICP)刻蚀损伤,优化了低损伤ICP刻蚀的关键工艺参数,得到了一种低损伤、形貌良好的Bragg光栅的制作方法。结合优化的InP材料金属有机物化学气相沉积(MOCVD)外延生长工艺,制作出1.55μm分布反馈(DFB)激光器,端面镀膜前其阈值电流和斜率效率分别为15mA和0.3mW/mA,边模抑制比大于45dB。寿命加速老化实验结果显示,该器件40℃的中值寿命超过2×106h,表明了本文ICP光栅刻蚀工艺的可靠性。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体(ICP)刻蚀 金属氧化物化学气相沉积(mocvd) 分布反馈(DFB)激光器 可靠性
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