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一种有效评估桥接故障的I_(DDQ)可测试性分析算法
1
作者
冯建华
孙义和
李树国
《清华大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第1期140-143,共4页
鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和...
鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和从原始输入端传播标记集可识别重汇聚扇出门,然后采用反向蕴含过程计算重汇聚门基本矢量的概率值,进行重汇聚扇出点的评价。实验结果表明这种算法可获得较精确的可测试性分析结果。
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关键词
桥接故障
IDDQ可测试性分析算法
超大规模集成电路
重
汇聚
扇
出
反向蕴含
基本矢量集
电路测试
原文传递
题名
一种有效评估桥接故障的I_(DDQ)可测试性分析算法
1
作者
冯建华
孙义和
李树国
机构
清华大学微电子学研究所
出处
《清华大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第1期140-143,共4页
基金
国防重点实验室基金(514330202)
国家自然科学基金资助项目(90207018)
文摘
鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和从原始输入端传播标记集可识别重汇聚扇出门,然后采用反向蕴含过程计算重汇聚门基本矢量的概率值,进行重汇聚扇出点的评价。实验结果表明这种算法可获得较精确的可测试性分析结果。
关键词
桥接故障
IDDQ可测试性分析算法
超大规模集成电路
重
汇聚
扇
出
反向蕴含
基本矢量集
电路测试
Keywords
I_(DDQ) testing
testability analysis
reconvergent fanout
backward implication
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种有效评估桥接故障的I_(DDQ)可测试性分析算法
冯建华
孙义和
李树国
《清华大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
0
原文传递
已选择
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