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基于Taguchi方法的曲面底板LED阵列重影问题研究 被引量：5
1
作者 史晨阳 文尚胜 陈颖聪 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第6期651-656,共6页
重影是阅读灯急需解决的一个重要问题。为了分析影响曲面底板配光的LED阵列照明重影的因子,采用Taguchi实验方法设计,并通过Trace Pro软件仿真实验,再运用ANOVA理论分析出因子对品质的影响程度,优化曲面底板LED阵列的各项结构参数。结... 重影是阅读灯急需解决的一个重要问题。为了分析影响曲面底板配光的LED阵列照明重影的因子,采用Taguchi实验方法设计,并通过Trace Pro软件仿真实验,再运用ANOVA理论分析出因子对品质的影响程度,优化曲面底板LED阵列的各项结构参数。结果表明:最优化组合的最小重影为1.19 mm;LED芯片数量对重影宽度影响最大,占有50.17%的影响地位。进一步,为得到重影宽度更小的组合,可通过调小芯片与光轴夹角实现。 展开更多
关键词 Taguchi方法 曲面底板 LED照明 重影问题 ANOVA
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红外焦平面读出电路成像重影问题的分析
2
作者 马静 李敬国 王亮 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2017年第4期470-473,共4页
随着红外焦平面探测器广泛的应用,在实际成像中会出现一些新的问题。本文针对某款256×256规格的探测器成像出现重影问题,制定了相应的读出电路成像测试分析方案。从读出电路通道、主时钟频率、目标信号强度等方面全面分析该问题与... 随着红外焦平面探测器广泛的应用,在实际成像中会出现一些新的问题。本文针对某款256×256规格的探测器成像出现重影问题,制定了相应的读出电路成像测试分析方案。从读出电路通道、主时钟频率、目标信号强度等方面全面分析该问题与读出电路的关系,并定位了重影问题的原因。 展开更多
关键词 读出电路 重影问题 点光源测试 焦平面
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