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用通用显卡加速三维锥束T-FDK重建算法 被引量：6
1
作者 戴智晟 陈志强 +2 位作者 邢宇翔 张丽 毕文元 《清华大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第9期1589-1592,共4页
利用通用显卡实现算法加速是一种适应CT重建特点的重要硬件加速方法。为了提高三维锥束T-FDK算法的重建速度,在对T-FDK算法简单描述的基础上结合显卡特点提出了快速实现T-FDK算法重建的方法。由于显卡的浮点管道比8bit的纹理光栅化管道... 利用通用显卡实现算法加速是一种适应CT重建特点的重要硬件加速方法。为了提高三维锥束T-FDK算法的重建速度,在对T-FDK算法简单描述的基础上结合显卡特点提出了快速实现T-FDK算法重建的方法。由于显卡的浮点管道比8bit的纹理光栅化管道慢,但是精度高,将两者结合,在力求达到重建速度和图像质量的平衡的基础上实现了该方法。实验结果表明,与经过初步对称性优化后的T-FDK软件算法相比,快速算法达到了27.6倍的时间加速比,从而在保证图像质量的情况下提高了重建的速度。 展开更多
关键词 三维锥束CT T—FDK算法 通用显卡 加速重建
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基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计
2
作者 钱斌 《信息与电脑》 2016年第6期97-98,共2页
针对小批量显卡产品测试中存在资源利用率低、大量专用测试仪管理难的问题,笔者通过对SOPC技术的研究,在通用显卡测试仪上运用SOPC技术,提出了一种基于SOPC技术的通用化测试仪的设计方法,完成了基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计方案,... 针对小批量显卡产品测试中存在资源利用率低、大量专用测试仪管理难的问题,笔者通过对SOPC技术的研究,在通用显卡测试仪上运用SOPC技术,提出了一种基于SOPC技术的通用化测试仪的设计方法,完成了基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计方案,并最终根据设计目的给出了相应实例,证实该方法具有一定可行性。通过对该方法的研究,对于提高通用显卡测试仪的性能具有一定意义。 展开更多
关键词 SOPC NiosII测试 通用显卡
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