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X荧光滤纸片薄样法测定铅锌矿选矿流程样中Pb、Zn、Cu、Fe 被引量：8
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作者 殷秀文 郝贡章 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 1996年第1期80-83,共4页
本法将Ｘ荧光滤纸片薄样法用于具有复杂组份的铅锌矿选矿样品中Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ的分析，样品经化学溶样后滴于定量滤纸片上，标准样品可直接用纯试剂人工配制，用同样制成滤纸片薄样标准系列，因薄样测定可不作基体效应校正，标... 本法将Ｘ荧光滤纸片薄样法用于具有复杂组份的铅锌矿选矿样品中Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ的分析，样品经化学溶样后滴于定量滤纸片上，标准样品可直接用纯试剂人工配制，用同样制成滤纸片薄样标准系列，因薄样测定可不作基体效应校正，标样使用数量少，又无需化学法标定，故方法实验周期短，样品测定手续简便快速，元素分析含量适应范围宽，可适用于组分复杂，元素含量变化范围大的试样分析。样品分析结果与化学法相符，方法准确度与精密度均能满足选矿样品分析的要求。 展开更多
关键词 选矿流程样 铅 锌 铜 铁 XRFA
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