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同步时序电路中组合冗余故障识别技术
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作者 郭希维 苏群星 谷宏强 《兵工自动化》 2007年第2期83-85,共3页
对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。基于无故障电路的条件,其验证过程用状态图表示。并用ILA识别不可测故障均为组合冗余故障,而组合冗余故障可... 对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。基于无故障电路的条件,其验证过程用状态图表示。并用ILA识别不可测故障均为组合冗余故障,而组合冗余故障可用长度为1的ILA实现。故可由此简化不可测故障的识别过程。并通过时序电路中的组合冗余故障识别以验证。 展开更多
关键词 不可测故障 组合冗余 迭代逻辑阵列 自动测试模式生成
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