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心理软计算的理论和应用 被引量：1
1
作者 余嘉元 《心理科学》 CSSCI CSCD 北大核心 2016年第4期770-776,共7页
心理软计算是软计算、机器学习、数据挖掘、智能计算和心理学相结合的新方法体系,本文提出了心理软计算的总体框架和基本体系,指出该理论的主要内容包括心理软测量、心理软识别、心理软建模和心理软评估,介绍了它在参数估计、认知诊断... 心理软计算是软计算、机器学习、数据挖掘、智能计算和心理学相结合的新方法体系,本文提出了心理软计算的总体框架和基本体系,指出该理论的主要内容包括心理软测量、心理软识别、心理软建模和心理软评估,介绍了它在参数估计、认知诊断、数据分析、综合评估和测验编制等方面的应用。随着现代科学技术的发展,心理软计算的内涵必将更加丰富,应用一定更加广泛。 展开更多
关键词 心理软计算 软测量 软识别 软建模 软评估
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软实力的评估路径与中国软实力的吸引力 被引量：5
2
作者 游国龙 《现代国际关系》 CSSCI 北大核心 2017年第9期18-26,共9页
软实力评估可分为量化统计与问卷调查两个路径,中国软实力在量化统计的排名中垫后,但在问卷调查中的表现与美国不相上下。研究发现,量化统计存在选择指标偏向西方标准,忽略反应中国软实力的指标以及所选择数据不能体现人的情感作用等问... 软实力评估可分为量化统计与问卷调查两个路径,中国软实力在量化统计的排名中垫后,但在问卷调查中的表现与美国不相上下。研究发现,量化统计存在选择指标偏向西方标准,忽略反应中国软实力的指标以及所选择数据不能体现人的情感作用等问题。问卷调查结果更为直观,调查发现中国在文化、价值观、制度方面皆具特色,受到不同国家民众的喜爱。然而,目前,中国人因受西方中心主义影响而缺乏文化自信,这不利于中国文化走出去。"文化相对论"对于扭转这一状况具有启示意义。 展开更多
关键词 量化统计 问卷调查 软实力评估 中国软实力 文化相对论
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软实力的三种评估框架及其方法 被引量：4
3
作者 钟新 黄超 《湖南师范大学社会科学学报》 CSSCI 北大核心 2013年第3期93-100,共8页
目前,国际上对软实力的评估主要集中在民族—国家这个对象,考察受软实力影响下国外民众的态度、组成国家软实力的相关结构等,即印象型评估框架、来源型评估框架。并引入大规模案例建立数据库,将公共部门、私人部门、公民社会纳入软实力... 目前,国际上对软实力的评估主要集中在民族—国家这个对象,考察受软实力影响下国外民众的态度、组成国家软实力的相关结构等,即印象型评估框架、来源型评估框架。并引入大规模案例建立数据库,将公共部门、私人部门、公民社会纳入软实力评估主体范畴,为完善软实力的评估实践指引了新的思考方向。CCoGA-EAI民意调查、IfG-Monocle软实力排行榜、ICD文化外交报告三个案例为我们提供了评估软实力的三种框架和方法。 展开更多
关键词 软实力评估 研究方法 印象型框架 来源型框架 数据库型框架
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高校图书馆质量评估中的“软条件评估” 被引量：1
4
作者 扎拉嘎呼 乔爱荣 《图书馆理论与实践》 CSSCI 北大核心 2007年第1期77-78,94,共3页
提出高校图书馆评估中“软条件评估”的新观点。在阐述了这些观点的必要性和可行性基础上对这种评估的方法和内容做了说明,得出了高校图书馆评估工作只有在“量化评估”和“定性评估”相结合时才能使其更加充分和完善的论断。
关键词 图书馆评估 软条件评估 定性评估 高校图书馆
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真实FPGA器件下单粒子软错误评估工具设计
5
作者 周家成 《电子与封装》 2014年第6期18-22,31,共6页
FPGA器件在航天领域应用广泛,然而在空间环境下,基于SRAM工艺的FPGA器件极易受到单粒子翻转(Single Event Upsets,SEU)影响而导致电路发生软错误。针对具有代表性的Xilinx Virtex系列器件进行了SEU评估方法的研究,设计并开发了一款面向V... FPGA器件在航天领域应用广泛,然而在空间环境下,基于SRAM工艺的FPGA器件极易受到单粒子翻转(Single Event Upsets,SEU)影响而导致电路发生软错误。针对具有代表性的Xilinx Virtex系列器件进行了SEU评估方法的研究,设计并开发了一款面向Virtex器件的SEU效应评估工具,并与FPGA标准设计流程进行了有效融合。实验结果表明,提出的评估方法和工具对Virtex器件的SEU效应可以进行准确的评估,从而为FPGA结构设计和应用开发提供先于硬件实现的软件验证环境,对高可靠性FPGA芯片的研究、开发和设计都具有重要意义。 展开更多
关键词 FPGA 单粒子翻转 软错误 结构建模 软错误评估
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增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法
6
作者 刘畅 贺旭 +1 位作者 梁斌 郭阳 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第6期1158-1165,共8页
为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;... 为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台,可自动地完成布局及软错误率评估.模拟结果表明,该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度,减少14%~26%的软错误率. 展开更多
关键词 软错误率 电荷共享效应 脉冲窄化效应 单粒子瞬态 详细布局方法 软错误率评估
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