9914765基于软件差错相关的可靠性增长模型[刊]/赵玮//西安电子科技大学学报.—1999,26(3).—286～289,296(D)通过考虑软件中差错的相关性,讨论了一种基于NHPP 的新的软件可靠性增长模型,并以 MLLF、AIC和均方误差为准则,将该模型与普通...9914765基于软件差错相关的可靠性增长模型[刊]/赵玮//西安电子科技大学学报.—1999,26(3).—286～289,296(D)通过考虑软件中差错的相关性,讨论了一种基于NHPP 的新的软件可靠性增长模型,并以 MLLF、AIC和均方误差为准则,将该模型与普通 S 型可靠性增长模型和延迟 S 型可靠性增长模型做了比较,得出了较为满意的结果。展开更多
文摘9914765基于软件差错相关的可靠性增长模型[刊]/赵玮//西安电子科技大学学报.—1999,26(3).—286～289,296(D)通过考虑软件中差错的相关性,讨论了一种基于NHPP 的新的软件可靠性增长模型,并以 MLLF、AIC和均方误差为准则,将该模型与普通 S 型可靠性增长模型和延迟 S 型可靠性增长模型做了比较,得出了较为满意的结果。
