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Ge/Si(100)量子点生长与形态分布的研究 被引量:6
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作者 周志玉 周志文 +3 位作者 李成 陈松岩 余金中 赖虹凯 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期220-225,共6页
利用超高真空化学气相淀积系统,通过控制淀积量、温度、流量等生长参数,在n型Si(100)衬底上自组装生长了一系列Ge量子点样品,用原子力显微镜进行了表征与分析。系统地研究了生长参数对Ge岛形态分布的影响并分析了有序、高密度Ge岛... 利用超高真空化学气相淀积系统,通过控制淀积量、温度、流量等生长参数,在n型Si(100)衬底上自组装生长了一系列Ge量子点样品,用原子力显微镜进行了表征与分析。系统地研究了生长参数对Ge岛形态分布的影响并分析了有序、高密度Ge岛的生长机理。结果表明,从二维向三维岛跃迁后,最初形成的高宽比(高度与底宽的比值)在0.04~0.06之间的小岛是一种在低温下可以与圆顶岛共存的稳定岛,两种岛的分布随淀积参数的变化而变化。在高温下小岛几乎消失,流量的变化对小岛的密度影响较小。实验中获得小岛的密度最高为2.6×10^10cm^-2,圆顶岛的密度最高为4.2×10^9cm^-2。 展开更多
关键词 GE量子点 超高空化气相 S-K生长模式
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双层多孔硅结构上的UHV/CVD硅外延 被引量:2
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作者 王瑾 黄靖云 +4 位作者 黄宜平 李爱珍 包宗明 竺士炀 叶志镇 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第10期979-983,共5页
报道了采用超高真空化学气相淀积 ( UHV/CVD)在多孔硅层上的单晶硅外延技术 .研究了两步阳极化法形成不同多孔度的双层多孔硅层及外延前对多孔硅进行长时间的低温真空预处理等工艺 .对获得的外延层作了 XRD、XTEM和扩展电阻等测量 ,测... 报道了采用超高真空化学气相淀积 ( UHV/CVD)在多孔硅层上的单晶硅外延技术 .研究了两步阳极化法形成不同多孔度的双层多孔硅层及外延前对多孔硅进行长时间的低温真空预处理等工艺 .对获得的外延层作了 XRD、XTEM和扩展电阻等测量 ,测量结果表明硅外延层单晶性好 ,并和硅衬底、多孔硅层具有相同的晶向 .硅外延层为 P型 ,电阻率大于 1 0 0 Ω·cm. 展开更多
关键词 多孔硅 超高空化气相 硅外延
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多层Ge量子点的生长及其光学特性 被引量:5
3
作者 邓宁 王吉林 +2 位作者 黄文韬 陈培毅 李志坚 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第9期951-954,共4页
用超高真空化学气相淀积系统在Si(1 0 0 )衬底上生长了多层Ge量子点 .分别用TEM和AFM分析了埋层和最上层量子点的形貌和尺寸 ,研究了量子点层数和Si隔离层厚度对上层Ge量子点的形状和尺寸分布的影响 .观察到样品的低温PL谱线有明显蓝移 ... 用超高真空化学气相淀积系统在Si(1 0 0 )衬底上生长了多层Ge量子点 .分别用TEM和AFM分析了埋层和最上层量子点的形貌和尺寸 ,研究了量子点层数和Si隔离层厚度对上层Ge量子点的形状和尺寸分布的影响 .观察到样品的低温PL谱线有明显蓝移 (87meV) ,Ge量子点的PL谱线的半高宽度 (FWHM )为 46meV 。 展开更多
关键词 超高空化气相 多层锗量子点 PL谱
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超高真空CVD对锗硅外延材料中锗分布的优化 被引量:1
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作者 刘佳磊 刘志弘 陈长春 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期615-617,621,共4页
对自行研制的超高真空化学气相外延设备(RHT/UHV/CVD SGE500)的气路系统进行了改进,使之能够生长出较好的Ge分布图形。利用X射线双晶衍射(DCXRD)和二次离子质谱(SIMS)测试技术,研究并优化了外延生长参量,最终得到了具有优化Ge分布的SiG... 对自行研制的超高真空化学气相外延设备(RHT/UHV/CVD SGE500)的气路系统进行了改进,使之能够生长出较好的Ge分布图形。利用X射线双晶衍射(DCXRD)和二次离子质谱(SIMS)测试技术,研究并优化了外延生长参量,最终得到了具有优化Ge分布的SiGe材料。 展开更多
关键词 超高空化气相 渐变Ge分布 SIGE材料
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HPT型Ge量子点红外探测器
5
作者 魏榕山 何明华 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2011年第5期791-794,共4页
异质结光敏晶体管(HPT)是一种具有内部电流增益的光电探测器,且与异质结双极晶体管(HBT)的制作工艺完全兼容。利用超高真空化学气相淀积(UHV/CVD)方法在HBT晶体管的基区和集电区间加入多层Ge量子点材料作为光吸收区。TEM和DCXRD测试结... 异质结光敏晶体管(HPT)是一种具有内部电流增益的光电探测器,且与异质结双极晶体管(HBT)的制作工艺完全兼容。利用超高真空化学气相淀积(UHV/CVD)方法在HBT晶体管的基区和集电区间加入多层Ge量子点材料作为光吸收区。TEM和DCXRD测试结果表明,生长的多层Ge量子点材料具有良好的晶体质量。为了提高HPT的发射极注入效率,采用高掺杂多晶硅作为发射极,并制作出两端HPT型Ge量子点探测器。室温条件下的测试结果表明,HPT型量子点探测器具有低的暗电流密度和高的反向击穿电压。-8 V偏压下,HPT型量子点探测器在1.31μm和1.55μm处的响应度分别为4.47mA/W和0.11 mA/W。与纵向PIN结构量子点探测器相比,HPT型量子点探测器在1.31μm和1.55μm处的响应度分别提高了104倍和78倍。 展开更多
关键词 异质结光敏晶体管 GE量子点 多晶硅发射极 超高空化气相
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两种自主开发的图形外延SiGe工艺
6
作者 徐阳 王飞 +2 位作者 许军 刘志弘 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第z1期389-391,共3页
使用清华大学微电子学研究所研发的UHV/CVD系统深入研究了图形外延SiGe工艺,分别选用单一的SiO2介质层和SiO2/P0ly-Si复合介质层,作为图形外延SiGe单晶材料的窗口屏蔽介质,开发出了不同的实用化图形外延SiGe工艺.
关键词 图形外延 SIGE 超高空化气相
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Ge_xSi_(1-x)材料生长的改善
7
作者 李代宗 于卓 +3 位作者 雷震霖 成步文 余金中 王启明 《材料研究学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期215-217,共3页
利用超高真空化学气相淀积(UHV/CVD)系统在 650℃生长出表面光亮的 GeSi单晶 在1200L/min分子泵与前级机械系间串接 450L/min分子泵,改善了生长环境串接分子泵后生长的 样品的X射线双晶衍射分析表... 利用超高真空化学气相淀积(UHV/CVD)系统在 650℃生长出表面光亮的 GeSi单晶 在1200L/min分子泵与前级机械系间串接 450L/min分子泵,改善了生长环境串接分子泵后生长的 样品的X射线双晶衍射分析表明,外延层衍射峰半宽仅为 198arcsec, 且出现了 Pendellosung干涉条 纹,说明外延层结晶质量很好。 展开更多
关键词 超高空化气相 硅化锗材料 晶体生长
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UHV/CVD生长本征硅外延层的研究
8
作者 岳磊 陈长春 +2 位作者 许军 刘志弘 钱佩信 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2006年第2期132-135,共4页
在微波双极型晶体管中,收集区的厚度是影响其截止频率的一个重要因素。普通的常压外延难以生长出杂质浓度变化陡峭的薄外延层。文章利用自行研制的超高真空化学气相淀积(UHV/CVD)系统SGE500,在N型(掺As)重掺杂衬底上进行了薄本征硅外延... 在微波双极型晶体管中,收集区的厚度是影响其截止频率的一个重要因素。普通的常压外延难以生长出杂质浓度变化陡峭的薄外延层。文章利用自行研制的超高真空化学气相淀积(UHV/CVD)系统SGE500,在N型(掺As)重掺杂衬底上进行了薄本征硅外延层生长规律的研究;并采用扩展电阻(SPR)、原子力显微镜(AFM)、双晶衍射(DCXRD)等方法,对外延层的质量进行了评价。采用该外延材料制作的锗硅异质结双极型晶体管(SiGe HBT)器件击穿特性良好。 展开更多
关键词 超高空化气相 锗硅器件 异质结双极型晶体管 本征硅外延
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Growth of SiGe by D-UHV/CVD at Low Temperature
9
作者 曾玉刚 韩根全 余金中 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第10期1889-1892,共4页
The temperature is a key factor for the quality of the SiGe alloy grown by D-UHV/CVD. In conventional conditions,the lowest temperature for SiGe growth is about 550℃. Generally, the pressure of the growth chamber is ... The temperature is a key factor for the quality of the SiGe alloy grown by D-UHV/CVD. In conventional conditions,the lowest temperature for SiGe growth is about 550℃. Generally, the pressure of the growth chamber is about 10 ^-5 Pa when liquid nitrogen is introduced into the wall of the growth chamber with the flux of 6sccm of the disilane gas. We have succeeded in depositing SiGe films at much lower temperature using a novel method. It is about 10.2 Pa without liquid nitrogen, about 3 magnitudes higher than the traditional method,leading to much faster deposition rate. Without liquid nitrogen,the SiGe film and SiGe/Si superlattice are grown at 485℃. The DCXRD curves and TEM image show that the quality of the film is good. The experiments show that this method is efficient to deposit SiGe at low temperature. 展开更多
关键词 SIGE D-UHV/CVD low-temperature deposition DCXRD
原文传递
超高真空化学气相外延系统
10
作者 吴光豪 《今日科技》 1997年第5期14-14,共1页
关键词 超大规模集成电路 UHV/CVD 超高空化气相外延系统
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