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CAIP中测量路径优化方法的研究
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作者 王世刚 《机械制造》 北大核心 2004年第6期15-17,共3页
计算机辅助检测工艺规划(CAIP)是计算机集成制造系统(CIMS)中集成质量系统(IQS)的关键环节。文章研究了CAIP中测量工艺优化技术,对坐标测量机的测量路径优化问题进行了合理的描述,分析了已有路径优化方法存在的不足,提出并实现了将遗传... 计算机辅助检测工艺规划(CAIP)是计算机集成制造系统(CIMS)中集成质量系统(IQS)的关键环节。文章研究了CAIP中测量工艺优化技术,对坐标测量机的测量路径优化问题进行了合理的描述,分析了已有路径优化方法存在的不足,提出并实现了将遗传算法和禁忌搜索算法结合的策略用于测量路径优化的GA-TS算法,取得了良好的效果。 展开更多
关键词 计算机辅助检测工艺规划 CAIP 计算机集成制造系统 集成质量系统 坐标测量机 测量路径优化
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