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利用静电聚苯乙烯纳米微粒对LiNbO_3铁电畴结构的观测
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作者 柯常 祁鸣 +1 位作者 刘宏 王继扬 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第5期958-962,共5页
利用静电聚苯乙烯纳米微粒缀饰技术,在铁电晶体铌酸锂(L iNbO3)的极性表面观察到铁电畴表面束缚电荷吸附带异性电荷纳米小球所形成的衬度图像,正负电畴衬度图像清晰稳定。这种对铁电晶体表面电畴结构进行表征的新方法不会对样品造成任... 利用静电聚苯乙烯纳米微粒缀饰技术,在铁电晶体铌酸锂(L iNbO3)的极性表面观察到铁电畴表面束缚电荷吸附带异性电荷纳米小球所形成的衬度图像,正负电畴衬度图像清晰稳定。这种对铁电晶体表面电畴结构进行表征的新方法不会对样品造成任何程度的损伤和破坏,操作简便易行,并具有较高的分辨率。 展开更多
关键词 带电纳米微粒缀饰技术 铌酸锂晶体 铁电畴结构 表面束缚电荷
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扫描探针显微镜测壳聚糖材料的表面电荷分布 被引量:7
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作者 杨吟野 汤洪敏 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期605-608,共4页
提出一种测量材料表面电荷是非均匀的、没有中性区的弱电荷的方法。即测试时,利用扫描探针显微镜(SPM)的静电力显微镜(EFM)测量技术,依靠轻敲模式(TappingMode)和抬举模式(LiftMode),用相位成像测量有机高分子膜———壳聚糖膜(CHI)的... 提出一种测量材料表面电荷是非均匀的、没有中性区的弱电荷的方法。即测试时,利用扫描探针显微镜(SPM)的静电力显微镜(EFM)测量技术,依靠轻敲模式(TappingMode)和抬举模式(LiftMode),用相位成像测量有机高分子膜———壳聚糖膜(CHI)的表面电荷密度空间分布,但由于仪器设计中相位的泰勒展开是:sinΔΦ≈1/2ΔΦ,所以所获的电荷图像只能确定材料的表面电荷分布和表面电荷密度的近似值。然而,嵴宽约为2.12μm表面正电荷微沟槽结构的这种特殊电荷形貌分布有利于细胞的生长,因此获得的表面电荷分布补充了生物材料表面理化性质。 展开更多
关键词 SPM EFM 表面电荷分布 表面束缚电荷密度 表面形貌 壳聚糖膜(CHI)
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