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激光衍射光栅测试仪的设计与实现 被引量：2
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作者 黎步银 李聪 +1 位作者 黄兆祥 张平川 《微计算机信息》 北大核心 2008年第34期96-97,83,共3页
激光二极管衍射光栅光斑亮度比和透过率的测定是影响VCD、DVD等设备中激光读写头以及光学镜头质量的关键因素。本设计采用高性能单片机AVRAtmega16L设计并实现了650nm激光衍射光栅测试仪,对衍射光栅0级和1级光斑亮度比和光栅透过率测试... 激光二极管衍射光栅光斑亮度比和透过率的测定是影响VCD、DVD等设备中激光读写头以及光学镜头质量的关键因素。本设计采用高性能单片机AVRAtmega16L设计并实现了650nm激光衍射光栅测试仪,对衍射光栅0级和1级光斑亮度比和光栅透过率测试误差小于2%,方差小于2.2×10-3,满足了光栅测试的精度和稳定性要求。 展开更多
关键词 衍射光栅测试仪 AVR单片机 光电探测器 激光二极管
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