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100G SR4并行光模块光电子集成封装的研究 被引量:5
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作者 杨松 李佼洋 蔡志岗 《现代电子技术》 北大核心 2019年第3期152-156,共5页
100G SR4并行光模块采用850 nm波长,单路25 Gb/s的传输速率,发射端使用4路VCSEL发射光,接收端使用4路PD接收光。文中介绍一种应用于100G SR4并行光模块的光电子集成封装方法——COB光折弯有源耦合封装技术。重点讨论了COB光折弯有源耦... 100G SR4并行光模块采用850 nm波长,单路25 Gb/s的传输速率,发射端使用4路VCSEL发射光,接收端使用4路PD接收光。文中介绍一种应用于100G SR4并行光模块的光电子集成封装方法——COB光折弯有源耦合封装技术。重点讨论了COB光折弯有源耦合封装技术的工艺并分析了Bonding的影响。采用此技术方法设计的100G SR4并行光模块具有耦合效率高、低成本和易实现的优点。 展开更多
关键词 并行光模块 光电子集成 COB封装 芯片bonding 100GSR4 有源耦合
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统计过程控制和自助法在集成电路制程中的应用
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作者 吴宇正 《现代信息科技》 2021年第8期54-56,共3页
国产芯片制造行业能否发展壮大,成为我国高科技是否能够冲出重围的决定性因素。作为芯片封装过程中的关键工艺之一,bonding的质量控制也将在一定程序上决定芯片的功能以及可靠性水平。如何对bonding质量控制尽早进行先期策划并实施有效... 国产芯片制造行业能否发展壮大,成为我国高科技是否能够冲出重围的决定性因素。作为芯片封装过程中的关键工艺之一,bonding的质量控制也将在一定程序上决定芯片的功能以及可靠性水平。如何对bonding质量控制尽早进行先期策划并实施有效且低成本的检测,成为了业内广泛探讨和急需解决的问题。文章通过统计过程控制和自助法的运用,对bonding拉力检验过程进行优化,在降低测试成本的同时变事后检验为事先预防。 展开更多
关键词 芯片bonding 统计过程控制 自助法
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