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基于覆盖率的功能验证方法 被引量:8
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作者 解咏梅 张珩 张福新 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2005年第1期23-24,28,共3页
随着半导体技术的发展,验证已经逐渐成为大规模集成电路设计的主要瓶颈。首先介绍传统的功能验证方法并剖析其优缺点,然后引入传统方法的一种改进———基于覆盖率的验证方法,最后介绍了基于覆盖率的验证方法在一款通用微处理器功能验... 随着半导体技术的发展,验证已经逐渐成为大规模集成电路设计的主要瓶颈。首先介绍传统的功能验证方法并剖析其优缺点,然后引入传统方法的一种改进———基于覆盖率的验证方法,最后介绍了基于覆盖率的验证方法在一款通用微处理器功能验证中的实际应用。 展开更多
关键词 功能验证 协同仿真 自测检验 基于覆盖率的方法
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集成电路的设计验证
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作者 倪青 《电脑知识与技术》 2006年第5期145-146,共2页
集成电路设计业正面临着一系列的挑战:芯片性能越来越强,规模越来越大,开发周期越来越长,设计质量越来越难于控制。而随着半导体技术的发展,设计验证已经逐渐成为大规模集成电路设计的主要瓶颈。而设计验证最基本的内容是功能验证,用于... 集成电路设计业正面临着一系列的挑战:芯片性能越来越强,规模越来越大,开发周期越来越长,设计质量越来越难于控制。而随着半导体技术的发展,设计验证已经逐渐成为大规模集成电路设计的主要瓶颈。而设计验证最基本的内容是功能验证,用于判别设计规范和实现之间是否一致。对模拟验证、形式验证中的等价性检验和模型检验进行了介绍,然后引入传统方法的一种改进——基于覆盖率的验证方法。 展开更多
关键词 设计验证 协同仿真 自测检验 基于覆盖率的方法
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