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磁控溅射制备高质量Fe_(20)Ni_(80)薄膜(英文)
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作者 王娇 张艺超 杨建红 《微纳电子技术》 北大核心 2016年第6期364-368,共5页
采用磁控溅射的方法制备了高质量的铁镍合金(Fe_(20)Ni_(80))软磁性薄膜,探究了制备过程中溅射条件对Fe_(20)Ni_(80)薄膜质量的影响,包括溅射气压、溅射功率、退火温度和薄膜厚度等。这些条件或改变了溅射时的溅射速率,或改变了溅射出... 采用磁控溅射的方法制备了高质量的铁镍合金(Fe_(20)Ni_(80))软磁性薄膜,探究了制备过程中溅射条件对Fe_(20)Ni_(80)薄膜质量的影响,包括溅射气压、溅射功率、退火温度和薄膜厚度等。这些条件或改变了溅射时的溅射速率,或改变了溅射出来的粒子的平均自由程,进而影响制备的Fe_(20)Ni_(80)薄膜的性质,包括薄膜晶粒取向、各向异性磁电阻及垂直各向异性等。通过分别改变薄膜制备过程中的工作气压、溅射功率、退火温度及薄膜厚度等,制备了具有高的各向异性磁电阻、低垂直各向异性和很小的矫顽力的Fe_(20)Ni_(80)薄膜,为下一步制备基于Fe_(20)Ni_(80)薄膜的自旋整流器件提供了工艺基础。 展开更多
关键词 Fe_(20)Ni_(80)薄膜 磁控溅射 各向异性磁电阻(AMR) 软磁性薄膜 自旋整流器
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