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题名集成电路综合自动测试系统软硬件接口设计
被引量：2
- 1
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作者
冯建呈
闫丽琴
王占选
冯敏洁
周欣萍
孟旭
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机构
北京航天测控技术有限公司
北京宇航系统工程研究所
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出处
《计算机测量与控制》
2023年第7期1-7,41,共8页
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文摘
为满足日益增长的集成电路测试需求,研制了集成电路综合自动测试系统;该系统对外包含软件平台接口和硬件平台接口;软件平台接口主要针对在被测集成电路规模越来越庞大的背景下,测试程序开发成本高、但软件测试平台之间不能互相兼容的问题,设计了一种基于自动测试模型的集成电路测试程序开发方法,并采用典型集成电路进行了测试验证,可满足测试程序开发的需要;硬件平台接口主要满足高速信号等的传递需求,设计了基于弹性对接技术的硬件平台接口,并进行了结构尺寸、信号传递特性等指标的测试,测试数据表明,可实现测试接口板与测试头之间的稳定连接,满足最高1.6 Gbps、最大2048通道数字信号等的传递需求。
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关键词
集成电路测试
接口设计
自动测试模型
Pogo
Block
弹性接入
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Keywords
IC test
interface design
automatic test model
Pogo Block
flexible access
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分类号
TJ01
[兵器科学与技术—兵器发射理论与技术]
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题名CCD相机自动测试技术研究
被引量：3
- 2
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作者
常飞
谢兴全
张学东
虢仲平
刘金
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机构
中国工程物理研究院计算机应用研究所
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出处
《计算机工程与应用》
CSCD
2012年第26期171-176,共6页
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文摘
建立了一个CCD相机自动测试模型,对CCD相机根据应用需求进行自动测试。根据应用环境分析了CCD相机的6个主要的影响因子,并分类为可用影响因子和可靠性影响因子;针对不同影响因子的特点,提出了具体的测试方法和算法,并建立了影响因子评价函数;根据因子评价函数,通过加权的方式建立了CCD相机的综合评价函数;模型还给出了CCD相机自动测试框架。实验结果表明,CCD相机自动测试技术能够有效减少测试时间,提高测试效率,降低测试复杂度,对CCD相机的测评更加全面和可信。
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关键词
CCD相机
自动测试模型
评价函数
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Keywords
CCD camera
auto-testing model
evaluation function
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分类号
TP393
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名一种电子设备自动测试模型及应用
- 3
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作者
王格芳
吴国庆
王利众
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机构
军械技术研究所
北京理工大学
北京理工大学
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出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2003年第7期45-47,52,共4页
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文摘
采用自动测试技术可以大大地缩短电子设备故障查找时间 ,是快速修复电子设备的最佳方法。提出了由自动测试设备 (ATE)模型、被测电子单元 (UUT)模型和测试接口设备 (TID)模型组成的一种电子设备自动测试模型 ,该模型使用信号描述方法定义了ATE测试能力、UUT信号要求及TID配置方法 ,并从系统集成、软件策略和测试描述 3个方面 ,介绍了该模型在某型电子装备自动测试系统(ATS)中的应用情况。结果表明该模型对组建ATS和设计TID具有一定的指导作用。
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关键词
电子设备
自动测试设备
被测单元
测试接口设备
自动测试模型
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Keywords
Electric equipment
Automatic Test Equipment (ATE)
Unit under Test (UUT)
Test Interface Device (TID)
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分类号
TN06
[电子电信—物理电子学]
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题名时序电路等价验证的触发器匹配
被引量：1
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作者
张超
竺红卫
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机构
浙江大学电气工程学院
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出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2014年第9期2283-2286,共4页
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文摘
通常的时序电路等价性验证方法是将触发器按时序展开,从而将时序电路转化为组合电路进行验证。而一般在待验证的两个时序电路中,触发器是一一对应的,找到触发器的对应关系,时序电路的验证就会得到很大的简化。该文通过一种新的基于布尔可满足性(SAT)算法的自动测试模式生成(ATPG)匹配模型建立联接电路,使用时序帧展开传递算法比较触发器的帧时序状态输出,同时在SAT解算中加入信息学习继承等启发式算法,将时序电路的触发器一一匹配。在ISCAS89电路上的实验结果表明,该文算法在对触发器的匹配问题上是非常有效的。
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关键词
触发器匹配
自动测试模式生成模型
布尔可满足性
时序帧递进展开
信息学习
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Keywords
Flip-flops matching
Automatic Test Pattern Generation （ATPG） module
Boolean Satisfiability（SAT）
Progressive expansion of sequential frames
Information learning
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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