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一种六边形芯片自动定位测试方法的研究与实现
1
作者
郑金宝
杨刚
+4 位作者
钟建平
刘红军
孟宪圆
李强
高今朝
《机电产品开发与创新》
2019年第4期81-83,共3页
探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,可以连接测试仪,分选出晶圆里面的不合格芯片,减少后续工作的加工耗费。随着半导体行业的不断发展,芯片的种类也变得多样化,其中六边形芯片的分选测试,还没有一个快速的测试方法。文中研究并且实现...
探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,可以连接测试仪,分选出晶圆里面的不合格芯片,减少后续工作的加工耗费。随着半导体行业的不断发展,芯片的种类也变得多样化,其中六边形芯片的分选测试,还没有一个快速的测试方法。文中研究并且实现了一种测试六边形芯粒的新方法,新型测试方法已经交付客户现场测试使用,测试结果得到了客户认可,解决了客户的测试难题。
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关键词
探针台
六边形芯片
自动
定位
测试方法
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职称材料
题名
一种六边形芯片自动定位测试方法的研究与实现
1
作者
郑金宝
杨刚
钟建平
刘红军
孟宪圆
李强
高今朝
机构
秦皇岛视听机械研究所有限公司
广州天极电子科技有限公司
出处
《机电产品开发与创新》
2019年第4期81-83,共3页
文摘
探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,可以连接测试仪,分选出晶圆里面的不合格芯片,减少后续工作的加工耗费。随着半导体行业的不断发展,芯片的种类也变得多样化,其中六边形芯片的分选测试,还没有一个快速的测试方法。文中研究并且实现了一种测试六边形芯粒的新方法,新型测试方法已经交付客户现场测试使用,测试结果得到了客户认可,解决了客户的测试难题。
关键词
探针台
六边形芯片
自动
定位
测试方法
Keywords
probe station
hexagonal wafer
automatic positioning test method
分类号
TH6 [机械工程—机械制造及自动化]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种六边形芯片自动定位测试方法的研究与实现
郑金宝
杨刚
钟建平
刘红军
孟宪圆
李强
高今朝
《机电产品开发与创新》
2019
0
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