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集成电路老化与可靠性试验分析
1
作者 朱文鹏 张瑞 《集成电路应用》 2024年第3期58-59,共2页
阐述集成电路老化的试验原理、主流设备和标准。介绍GJB548要求、影响和异议。老化试验是一种无损试验,是剔除产品电测试不能识别的功能失效、参数漂移和存在潜在缺陷器件最有效的方法。
关键词 集成电路 功能失效 参数漂移 缺陷器件
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