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工艺参数变化下的基于统计时序分析的时钟偏差安排
被引量：
1
1
作者
方君
陆伟成
赵文庆
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2007年第9期1172-1177,共6页
针对工艺参数变化的情况,提出一种成品率驱动的时钟偏差安排算法.提出统计时序约束图的概念,利用统计时序分析的结果将时序电路转换为统计时序约束图;将寻找关键环问题转换为最小费用/时间比值环问题,并按比例分配关键环中的时钟偏差的...
针对工艺参数变化的情况,提出一种成品率驱动的时钟偏差安排算法.提出统计时序约束图的概念,利用统计时序分析的结果将时序电路转换为统计时序约束图;将寻找关键环问题转换为最小费用/时间比值环问题,并按比例分配关键环中的时钟偏差的安全余量.实验结果表明,该算法有助于提高集成电路的成品率.
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关键词
时钟偏差
统计
时序
分析
统计
时序
约束
图
成品率
下载PDF
职称材料
题名
工艺参数变化下的基于统计时序分析的时钟偏差安排
被引量：
1
1
作者
方君
陆伟成
赵文庆
机构
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2007年第9期1172-1177,共6页
基金
国家自然科学基金(90307017
60676018)
+5 种基金
国家"九七三"重点基础研究发展规划项目(2005CB321701)
教育部跨世纪优秀人才培养计划基金
教育部博士点基金(20050246082)
上海市科委重点基础研究项目(04JC14015
05JC14007)
上海应用材料研究与发展基金(0418).
文摘
针对工艺参数变化的情况,提出一种成品率驱动的时钟偏差安排算法.提出统计时序约束图的概念,利用统计时序分析的结果将时序电路转换为统计时序约束图;将寻找关键环问题转换为最小费用/时间比值环问题,并按比例分配关键环中的时钟偏差的安全余量.实验结果表明,该算法有助于提高集成电路的成品率.
关键词
时钟偏差
统计
时序
分析
统计
时序
约束
图
成品率
Keywords
clock skew
statistical timing analysis
statistical timing constraint graph
yield
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
工艺参数变化下的基于统计时序分析的时钟偏差安排
方君
陆伟成
赵文庆
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2007
1
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职称材料
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