TL653 2005042666 利用X射线激光干涉诊断等离子体电子密度=Experi- mental diagnose of plasma electron density by interferome- try using an X-ray laser as probe[刊,中]／王琛(上海激光等离子体研究所,上海(201800)),王伟…／／...TL653 2005042666 利用X射线激光干涉诊断等离子体电子密度=Experi- mental diagnose of plasma electron density by interferome- try using an X-ray laser as probe[刊,中]／王琛(上海激光等离子体研究所,上海(201800)),王伟…／／物理学报．- 2005,54(1),-202-205 X射线激光探针干涉方法是诊断高温高密度激光等离子体电子密度等信息的重要工具。利用神光Ⅱ装置输出激光驱动的类镍-银X射线激光作为探针,成功地进行了马赫-曾德尔干涉法诊断实验。展开更多
O536 94021095激光锗等离子体电子密度诊断=Diagnostics ofelectron density in laser-produced Ge plasma[刊,中]/黄文忠,何绍堂,孔令华,韩红军(西南核物理与化学所)//强激光与粒子束.-1993,5(3).-464～471测量了激光加热锗等离子体XU...O536 94021095激光锗等离子体电子密度诊断=Diagnostics ofelectron density in laser-produced Ge plasma[刊,中]/黄文忠,何绍堂,孔令华,韩红军(西南核物理与化学所)//强激光与粒子束.-1993,5(3).-464～471测量了激光加热锗等离子体XUV光谱,对所测得的GeXXII谱线进行了辨认和分类。通过对各谱线的考察,找出了对电子密度敏感。展开更多
O433.54 96052896共振离子化质谱在高纯材料表面杂质分析中的应用=Resonance ionization mass spectrometry forsurface impurity analysis of high purity materials[刊,中]/叶棣,董爱华(中科院金属腐蚀与防护研究所.辽宁,沈阳(110015...O433.54 96052896共振离子化质谱在高纯材料表面杂质分析中的应用=Resonance ionization mass spectrometry forsurface impurity analysis of high purity materials[刊,中]/叶棣,董爱华(中科院金属腐蚀与防护研究所.辽宁,沈阳(110015)),前田遥,高见道生(日本理化学研究所.日本,玉县(351—01))∥光谱实验室.—1995,12(6).展开更多
文摘TL653 2005042666 利用X射线激光干涉诊断等离子体电子密度=Experi- mental diagnose of plasma electron density by interferome- try using an X-ray laser as probe[刊,中]／王琛(上海激光等离子体研究所,上海(201800)),王伟…／／物理学报．- 2005,54(1),-202-205 X射线激光探针干涉方法是诊断高温高密度激光等离子体电子密度等信息的重要工具。利用神光Ⅱ装置输出激光驱动的类镍-银X射线激光作为探针,成功地进行了马赫-曾德尔干涉法诊断实验。
文摘O536 94021095激光锗等离子体电子密度诊断=Diagnostics ofelectron density in laser-produced Ge plasma[刊,中]/黄文忠,何绍堂,孔令华,韩红军(西南核物理与化学所)//强激光与粒子束.-1993,5(3).-464～471测量了激光加热锗等离子体XUV光谱,对所测得的GeXXII谱线进行了辨认和分类。通过对各谱线的考察,找出了对电子密度敏感。
文摘O433.54 96052896共振离子化质谱在高纯材料表面杂质分析中的应用=Resonance ionization mass spectrometry forsurface impurity analysis of high purity materials[刊,中]/叶棣,董爱华(中科院金属腐蚀与防护研究所.辽宁,沈阳(110015)),前田遥,高见道生(日本理化学研究所.日本,玉县(351—01))∥光谱实验室.—1995,12(6).
