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多相体系银焊条的X射线能谱定量分析
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作者 陈晞 陈朝旭 《电子显微学报》 CAS CSCD 1990年第3期158-158,共1页
稀土银焊条属多相体系,它由低含量微细稀土氧化物弥散分布在银基体中所组成。文献[1][2]提出的多相体系样品电子探针定量分析法均由样品面扫描谱获得实验数据,对焊条中低含量的第二相元素,其峰强很低,实验误差大。因在银焊条中:基体对... 稀土银焊条属多相体系,它由低含量微细稀土氧化物弥散分布在银基体中所组成。文献[1][2]提出的多相体系样品电子探针定量分析法均由样品面扫描谱获得实验数据,对焊条中低含量的第二相元素,其峰强很低,实验误差大。因在银焊条中:基体对第二相各元素无荧光效应;基体对第二相各元素的质量吸收系数相近,第二相各元素特征x射线穿出基体时相对强度的变化可忽略,故基体、第二相之间的相互作用可忽略,宜用Russ法(即多相体系样品之平均成分由各单独相成分按其体积分数加和取得)进行定量分析。 展开更多
关键词 稀土银焊条 X射线 能谱 定量分析
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