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磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法
1
作者
李震
蔡长波
《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期115-117,共3页
本文采用自制的一种磁光特性测试仪器和 Romberg外推算法 ,对于 SONY公司的一种 640 M直接重写磁光盘 ,在 2 4 5～ 350 K温度范围内 ,获得它完整的磁光温度特性 ,包括克尔角与温度的关系曲线和矫顽力与温度的关系曲线。
关键词
外推算法
磁
光
特性
测量
磁
光
记录薄膜
下载PDF
职称材料
题名
磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法
1
作者
李震
蔡长波
机构
华中科技大学电子科学与技术系
出处
《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期115-117,共3页
文摘
本文采用自制的一种磁光特性测试仪器和 Romberg外推算法 ,对于 SONY公司的一种 640 M直接重写磁光盘 ,在 2 4 5～ 350 K温度范围内 ,获得它完整的磁光温度特性 ,包括克尔角与温度的关系曲线和矫顽力与温度的关系曲线。
关键词
外推算法
磁
光
特性
测量
磁
光
记录薄膜
Keywords
extrapolation technique
interpolation
magneto optical film
Kerr effect
measurement of magneto optical effect.
分类号
TQ597.91 [化学工程—精细化工]
O484 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法
李震
蔡长波
《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
2001
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