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超细地质样品的谱学特征及矿物分布形态研究
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作者 魏均启 董学林 +7 位作者 向兆 朱丹 童铄云 陈国超 刘爽 王芳 潘诗洋 鲁力 《中国无机分析化学》 CAS 北大核心 2024年第9期1299-1305,共7页
地质样品粒度已成为制约提高分析精度的关键因素,近年来超细地质样品的制备已越来越多地受到地质分析实验室关注,目前仍广泛采用74μm的地质样品粒度水平已越来越不能满足高精度、高灵敏度、小取样量和微区现代分析技术的要求,迫切需要... 地质样品粒度已成为制约提高分析精度的关键因素,近年来超细地质样品的制备已越来越多地受到地质分析实验室关注,目前仍广泛采用74μm的地质样品粒度水平已越来越不能满足高精度、高灵敏度、小取样量和微区现代分析技术的要求,迫切需要发展适应地质实验室批量生产的超细地质样品制备技术。采用X射线粉晶衍射、扫描电子显微镜、差热分析等测试技术获得了地质样品超细化前后的谱学特征、并对超细地质样品中矿物分布形态进行研究。结果表明:超细加工使矿物结晶度降低,晶体产生晶胞畸变;矿物粒度分布主要集中于0.5~30μm,随矿物粒径减小,颗粒棱角逐渐消失,颗粒边界变模糊;矿物超细化后脱吸附水的热效应范围变宽,吸热效应变宽缓;矿物在超细地质样品中有单颗粒、集合体、团聚、包裹四种分布形态,影响地质样品超细化程度的主要因素是不易粉碎的矿物单颗粒和矿物集合体。基本查明了超细地质样品的谱学特征和矿物形态分布特点,为改进超细地质样品制备工艺和开发先进制备技术提供科学依据,对解决地质样品超细化均质性问题,提高地质样品分析准确性具有重要意义。 展开更多
关键词 超细地质样品 X射线粉晶衍射 扫描电子显微镜 差热分析 矿物形态分布
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