期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于单片机仿真器的单片机应用电路板故障测试系统的研究
被引量:
5
1
作者
覃战冰
邓斌
《国外电子测量技术》
2006年第11期16-19,共4页
对单片机应用电路板的故障测试进行研究,提出解决单片机应用电路板故障测试技术难题的解决方法,介绍测试系统的组成。根据文中提出的方法研制成功具有实用性的单片机应用电路板测试系统。
关键词
单片机系统
测试
系统
电路板
故障测试
下载PDF
职称材料
题名
基于单片机仿真器的单片机应用电路板故障测试系统的研究
被引量:
5
1
作者
覃战冰
邓斌
机构
空军雷达学院
出处
《国外电子测量技术》
2006年第11期16-19,共4页
文摘
对单片机应用电路板的故障测试进行研究,提出解决单片机应用电路板故障测试技术难题的解决方法,介绍测试系统的组成。根据文中提出的方法研制成功具有实用性的单片机应用电路板测试系统。
关键词
单片机系统
测试
系统
电路板
故障测试
Keywords
singlechip system, testing system, circuit board fault testing.
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于单片机仿真器的单片机应用电路板故障测试系统的研究
覃战冰
邓斌
《国外电子测量技术》
2006
5
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部