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用单片机控制的数字集成电路测试仪
1
作者
宋跃
《邵阳学院学报（社会科学版）》
1995年第2X期24-27,共4页
本文叙述了用8031单片计算机控制的测试电路,介绍了硬件结构和软件程序流程。结果表明,这种测试电路体积小、重量轻、效率高、性能/价格比高。
关键词
I/O扩展口
电源
和
地
控制
测试集
下载PDF
职称材料
题名
用单片机控制的数字集成电路测试仪
1
作者
宋跃
机构
邵阳师专物理系
出处
《邵阳学院学报（社会科学版）》
1995年第2X期24-27,共4页
文摘
本文叙述了用8031单片计算机控制的测试电路,介绍了硬件结构和软件程序流程。结果表明,这种测试电路体积小、重量轻、效率高、性能/价格比高。
关键词
I/O扩展口
电源
和
地
控制
测试集
Keywords
extended I/O device
control of power and ground
testiug collectiou
分类号
G64 [文化科学—高等教育学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
用单片机控制的数字集成电路测试仪
宋跃
《邵阳学院学报（社会科学版）》
1995
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