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半导体器件失效典型案例分析
被引量：
1
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作者
朱超
《引进与咨询》
2006年第1期71-72,共2页
本文以发生在实际工业生产当中的具体半导体失效案例剖析了其失效模式、失效机理的分析。
关键词
半导体
电流
过
应力
电迁移
品质失败成本
早期失效
下载PDF
职称材料
题名
半导体器件失效典型案例分析
被引量：
1
1
作者
朱超
机构
福建实达电脑设备有限公司
出处
《引进与咨询》
2006年第1期71-72,共2页
文摘
本文以发生在实际工业生产当中的具体半导体失效案例剖析了其失效模式、失效机理的分析。
关键词
半导体
电流
过
应力
电迁移
品质失败成本
早期失效
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
TN304.23
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作者
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1
半导体器件失效典型案例分析
朱超
《引进与咨询》
2006
1
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