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短沟道MOS阈值电压物理模型
被引量:
2
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作者
谢晓锋
张文俊
杨之廉
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期155-158,共4页
通过求解二维泊松方程推导了一个简洁的短沟道 MOS的阈值电压模型 ,得到的 DIBL因子可用于分析参数对短沟道效应的影响。模拟的结果能很好地与数值模拟器
关键词
短沟道
阀值
电压
金属—氧化物—半导体场效应晶体管
MOS
电压
物理
模型
下载PDF
职称材料
题名
短沟道MOS阈值电压物理模型
被引量:
2
1
作者
谢晓锋
张文俊
杨之廉
机构
清华大学微电子学研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期155-158,共4页
文摘
通过求解二维泊松方程推导了一个简洁的短沟道 MOS的阈值电压模型 ,得到的 DIBL因子可用于分析参数对短沟道效应的影响。模拟的结果能很好地与数值模拟器
关键词
短沟道
阀值
电压
金属—氧化物—半导体场效应晶体管
MOS
电压
物理
模型
Keywords
short-channel
threshold voltage
MOSFET
分类号
TN386.6 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
短沟道MOS阈值电压物理模型
谢晓锋
张文俊
杨之廉
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003
2
下载PDF
职称材料
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