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最小二乘法和熔丝编程 被引量:1
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作者 张亚军 陈利新 《电子与封装》 2012年第2期15-18,共4页
文章对模拟电路熔丝存在的原因、常见材料和常用的熔丝编程方式做了基本的介绍,由一个真实案例引入了和传统熔丝编程方案有所不同的熔丝编程算法——最小二乘法(数据拟合)。着重介绍了最小二乘法在测试采样数据呈线性关系时的一次线性... 文章对模拟电路熔丝存在的原因、常见材料和常用的熔丝编程方式做了基本的介绍,由一个真实案例引入了和传统熔丝编程方案有所不同的熔丝编程算法——最小二乘法(数据拟合)。着重介绍了最小二乘法在测试采样数据呈线性关系时的一次线性方程的拟合,并给出了具体的求解过程和系数计算公式。通过实例对比了传统熔丝编程和最小二乘法熔丝编程两种算法产生"精品"电路的差异。最后提出了使用最小二乘法算法进行熔丝编程的一些注意事项,同时介绍了一些和其类似的算法。 展开更多
关键词 数据拟合 模拟电路 熔丝编程 最小二乘法
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一种串并结合的多Site熔丝编程算法
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作者 张亚军 陶雪峰 《电子与封装》 2013年第3期16-19,27,共5页
随着集成电路产业的迅猛发展,熔丝修调越来越广泛地应用于集成电路测试工序,熔丝段数目随着需要修调参数的增多而逐步增长,传统的串行熔丝编程方案程序存在代码长、可维护性差、执行时间长等缺点,为了改进代码的可读性和可维护性,文章... 随着集成电路产业的迅猛发展,熔丝修调越来越广泛地应用于集成电路测试工序,熔丝段数目随着需要修调参数的增多而逐步增长,传统的串行熔丝编程方案程序存在代码长、可维护性差、执行时间长等缺点,为了改进代码的可读性和可维护性,文章引进了改进型算法,但对测试执行时间没有任何改善。随着测试代工市场竞争日益激烈,多Site测试方案被广泛使用,但是熔丝编程还继续着串行编程的老算法,Site数目越多,熔丝编程时间越长。针对以上,文章提出了一种串并结合的多Site熔丝编程算法,将多Site熔丝编程时间控制在和单Site熔丝串行编程时间几乎一致。 展开更多
关键词 串并结合 多Site 熔丝编程
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高效率并行熔丝方案的设计
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作者 曾祥峻 《电子与封装》 2015年第12期16-19,共4页
随着集成电路的迅速发展,熔丝在电路设计中应用普遍,测试对熔丝的要求也越来越高,需要更好的准确度和更快的效率。熔丝可以修调的参数当然也取决于该熔丝在电路中的作用,输出电压、参考电压是最为常见的修调参数,此外如基准频率、电流... 随着集成电路的迅速发展,熔丝在电路设计中应用普遍,测试对熔丝的要求也越来越高,需要更好的准确度和更快的效率。熔丝可以修调的参数当然也取决于该熔丝在电路中的作用,输出电压、参考电压是最为常见的修调参数,此外如基准频率、电流等也都可以通过修调做到很高的精度。简单介绍了常见的熔丝以及其作用,常用的熔丝并行测试的优势和缺陷,提出了在大于4 site测试时,进一步提高熔丝修调准确性以及修调速度的测试方法。 展开更多
关键词 熔丝编程 并行测试 多site测试
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一种适用于反熔丝FPGA的高效电荷泵电路
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作者 马金龙 于宗光 +1 位作者 赵桂林 朱岱寅 《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第5期397-402,共6页
基于Dickson电荷泵结构,提出了一种适用于反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)的新型高效电荷泵电路,实现了电荷泵的快速启动。通过采用时钟信号升压电路,减少了电荷泵级数,并减小了电路总体面积和功耗。仿真结果显示,在2.5 V的工作电压和整... 基于Dickson电荷泵结构,提出了一种适用于反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)的新型高效电荷泵电路,实现了电荷泵的快速启动。通过采用时钟信号升压电路,减少了电荷泵级数,并减小了电路总体面积和功耗。仿真结果显示,在2.5 V的工作电压和整体电路全负载的条件下,整体电路的启动时间约为20μs,可稳定输出电压5.46 V,工作电流约为618μA。采用0.18μm CMOS工艺流片并对其进行编程和测试,结果显示FPGA电路编程成功,功能正确,与仿真结果一致,表明了此电荷泵结构的可行性和实用性。 展开更多
关键词 熔丝现场可编程门阵列(FPGA) 隔离电路 电荷泵 快速启动 信号升压
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反熔丝FPGA电路瞬时电离辐射效应及加固设计 被引量:2
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作者 杜川华 詹峻岭 +1 位作者 许献国 袁国火 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第11期1247-1250,共4页
针对反熔丝FPGA电路,在"强光一号"加速器上进行了瞬时电离辐射试验,发现γ射线瞬时电离辐射会导致FPGA内部寄存器清零,使FPGA运行状态被初始化。为了解决该问题,设计了一种"FPGA+FRAM(铁电存储器)+特殊时序读写软件"... 针对反熔丝FPGA电路,在"强光一号"加速器上进行了瞬时电离辐射试验,发现γ射线瞬时电离辐射会导致FPGA内部寄存器清零,使FPGA运行状态被初始化。为了解决该问题,设计了一种"FPGA+FRAM(铁电存储器)+特殊时序读写软件"的加固电路,通过γ射线瞬时电离辐射试验证明:该加固电路实现了瞬时电离辐射状态下FPGA内部重要数据的实时保存与恢复,成功规避了FPGA电路的瞬时电离辐射效应。 展开更多
关键词 熔丝现场可编程门阵列 Γ射线 瞬时电离辐射效应 铁电存储器 信息保存与恢复
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