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题名平面LED阵列远场条件研究与实验验证
被引量：6
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作者
赖伟
陈伟民
雷小华
刘显明
李存龙
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机构
重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室光电工程学院
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出处
《光学技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第3期269-274,共6页
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基金
国家863计划项目(2008AA03A193)
重庆市科技攻关重大项目(2007AB4006)
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文摘
平面LED(light-emitting diode)阵列远场条件是实现其光度学参数正确测量的前提,为了确定不同平面LED阵列的远场条件,基于点光源发光强度的测量原理建立了面光源光轴上的不同距离下照度与距离平方乘积的函数关系模型,用其表征面光源光轴上光场的分布规律。在此基础上利用照度平方反比定律,以及平面LED阵列远场的近似条件,推导出了平面LED阵列远场条件的理论计算模型。以某款LED日光灯和LED射灯为对象,搭建了相关实验测量系统,对其光轴上的光场分布规律以及远场条件进行了实验验证。结果表明,LED日光灯和LED射灯在光轴上的光场实验分布曲线与理论分布曲线基本吻合,并且LED日光灯和LED射灯的理论远场条件分别为测量距离大于或等于LED阵列尺寸的4.4倍和14.6倍,实验远场条件分别为测量距离大于或等于LED阵列尺寸的5.1倍和17.7倍,实验和理论计算的远场条件基本一致,从而验证了LED阵列远场理论模型的正确性。
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关键词
应用光学
平面LED阵列
发光强度
照度平方反比定律
远场条件
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Keywords
flat LED array
luminous intensity
inverse-square law
far-field condition
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分类号
TN312.8
[电子电信—物理电子学]
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题名光照度平方反比定律在LED光源中的应用与探讨
被引量：4
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作者
蔡佩君
郑晓东
闻春敖
吕玮阁
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机构
浙江大学光电科学与工程学院
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出处
《实验室研究与探索》
CAS
北大核心
2020年第5期63-66,共4页
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文摘
根据发光二极管(LED)的封装分析发光芯片的虚像位置,推导出利用光照度平方反比定律测量LED平均光强时被照面与光源实际距离的校正值。测试了不同发散角LED在不同测试距离下的光照度,发散角越小,光照度偏离距离平方反比定律的误差越大。通过数据拟合校正测试距离,与理论分析、仿真结果相吻合,校正后LED的平均发光强度、照度与测试距离符合平方反比定律。结果进一步说明了LED发光强度测量标准中两种距离的设定有待商榷。该实验对光学工程类学科的照度平方反比定律验证实验设计与延伸有一定启发作用。
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关键词
照度平方反比定律
发光二极管
发散角
测试距离
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Keywords
inverse square law of illuminance
light emitting diode(LED)
divergence angle
measuring distance
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分类号
O432.2
[机械工程—光学工程]
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